一种高频激励磁场中磁纳米粒子测温的谐波幅值-温度方法

    公开(公告)号:CN112212996B

    公开(公告)日:2022-11-08

    申请号:CN202011079200.2

    申请日:2020-10-10

    Abstract: 本发明提出了一种高频激励磁场中磁纳米粒子测温的谐波幅值‑温度方法,其步骤为:利用Fokker‑Planck方程与Langevin方程拟合谐波幅值补偿函数,进而构建高频激励磁场中磁纳米温度测量谐波幅值‑温度模型;将磁纳米样品在高频激励磁场下的谐波幅值和相位信息带入构建的谐波幅值‑温度模型,求出磁纳米样品温度信息。本发明实现了高频激励磁场中磁纳米实时测温,解决了磁纳米温度测量方法仅适用于低频激励磁场而无法应用到高频磁场的难题,有助于提高磁纳米粒子时效性和可行性;可用于改善工业领域中大功率集成器件和医疗领域中热疗面临的高频磁场激励下的磁纳米温度测量精度较低的难题。

    一种高频激励磁场中磁纳米粒子测温的谐波幅值-温度方法

    公开(公告)号:CN112212996A

    公开(公告)日:2021-01-12

    申请号:CN202011079200.2

    申请日:2020-10-10

    Abstract: 本发明提出了一种高频激励磁场中磁纳米粒子测温的谐波幅值‑温度方法,其步骤为:利用Fokker‑Planck方程与Langevin方程拟合谐波幅值补偿函数,进而构建高频激励磁场中磁纳米温度测量谐波幅值‑温度模型;将磁纳米样品在高频激励磁场下的谐波幅值和相位信息带入构建的谐波幅值‑温度模型,求出磁纳米样品温度信息。本发明实现了高频激励磁场中磁纳米实时测温,解决了磁纳米温度测量方法仅适用于低频激励磁场而无法应用到高频磁场的难题,有助于提高磁纳米粒子时效性和可行性;可用于改善工业领域中大功率集成器件和医疗领域中热疗面临的高频磁场激励下的磁纳米温度测量精度较低的难题。

    一种基于磁纳米粒子的热物理参数测量系统

    公开(公告)号:CN211697590U

    公开(公告)日:2020-10-16

    申请号:CN202020440220.7

    申请日:2020-03-31

    Abstract: 本实用新型提出了一种基于磁纳米粒子的热物理参数测量系统,包括计算机和数据采集卡,计算机和数据采集卡相连接,所述数据采集卡分别与恒温控制模块、磁场激励模块和弱磁测量模块相连接,恒温控制模块与水槽相连接,水槽内设有盛放磁纳米粒子样品的样品试管,磁场激励模块与弱磁测量模块相连接,弱磁测量模块设置在样品试管的外侧。本实用新型克服了以往磁纳米粒子物理参数系统测量条件的单一性,无法准确测量动态参数相互耦合下的物理参数,可以实现多种磁场激励方式,变温环境下的多物理相互耦合状态下的物理参数准确测量,可以实现物理参数动态演绎,极大拓展了磁纳米粒子热物理参数动态特性的测量。

Patent Agency Ranking