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公开(公告)号:CN101646748A
公开(公告)日:2010-02-10
申请号:CN200880009906.2
申请日:2008-01-24
Applicant: 通用电气公司
Inventor: S·P·M·卢雷罗 , J·S·瓦图利 , B·A·克罗蒂尔 , S·J·杜克洛斯 , M·马诺哈兰 , P·R·L·马伦范特 , V·S·文卡塔拉马尼 , C·比诺 , A·斯里瓦斯塔瓦 , S·J·斯托克洛萨
Abstract: 提供包括嵌在塑料基质中的闪烁化合物纳米尺寸颗粒的闪烁检测器。所述纳米尺寸颗粒可以由金属氧化物、金属卤氧化物、金属硫氧化物或金属卤化物制成。提供了制备所述纳米尺寸颗粒的方法。所述颗粒在结合到所述塑料基质中之前可被涂以有机化合物或聚合物。还提供通过引入二氧化钛纳米尺寸颗粒来使塑料基质的折射率与所述纳米尺寸颗粒相匹配的方法。可将所述闪烁体与一或多个光电检测器联接以形成闪烁检测系统。所述闪烁检测系统可适用于X射线和辐射成像装置如数字X射线成像、乳房造影术、CT、PET或SPECT,或者可用于辐射安全检测器或地下辐射探测器。
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公开(公告)号:CN101102976A
公开(公告)日:2008-01-09
申请号:CN200580038309.9
申请日:2005-11-01
Applicant: 通用电气公司
IPC: C04B35/44 , C04B35/505 , C04B35/50
CPC classification number: C04B35/505 , C04B35/44 , C04B35/50 , C04B35/6264 , C04B35/62655 , C04B35/63 , C04B35/632 , C04B35/63424 , C04B2235/3225 , C04B2235/3418 , C04B2235/608 , C04B2235/77 , C04B2235/785 , C04B2235/9653
Abstract: 提供一种制备具有平均晶粒直径小于1微米的多阳离子陶瓷的方法。该方法包括以下步骤:提供至少第一材料和第二材料,其中第一材料包含第一阳离子,第二材料包含第二阳离子,并且其中第一阳离子和第二阳离子相互不相同,第一材料和第二材料每一都是纳米粉;形成包含第一材料和第二材料的混合物;由混合物形成坯体;形成包括第一阳离子和第二阳离子的致密多阳离子陶瓷材料,其中致密多阳离子陶瓷材料包含含有第一阳离子和第二阳离子的主相,该主相与第一材料和第二材料不同。多阳离子陶瓷具有高密度和高的直线透射率。
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