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公开(公告)号:CN101551462A
公开(公告)日:2009-10-07
申请号:CN200910118727.9
申请日:2009-01-09
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: H01L27/14663 , H01L27/14609 , H01L27/14636 , H04N5/357 , H04N5/374
Abstract: 一种双功能探测器装置,其以普通操作模式或EMI校正模式操作以抑制探测器(33)中的EMI效应。探测器装置(33)可是用在成像系统中的平板x射线探测器。所述装置具有像素构造(60)和板读出技术,该板读出技术能实时的、高空间频率的对由数字x射线探测器(33)上的电磁辐射产生的噪声进行测量。所述测量可用于实时校准探测器以获得所有环境中的无伪影图像,包括那些包含时间和空间变化电磁场的。
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公开(公告)号:CN1795824A
公开(公告)日:2006-07-05
申请号:CN200510133887.2
申请日:2005-12-22
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/00 , G01N23/04 , G01T1/00 , H01L29/786
CPC classification number: H01L29/41733 , H01L27/12 , H01L27/14658 , H01L29/78618
Abstract: 一种环形薄膜晶体管60,包括:布置在半导体材料层66之上的环形源电极62;在环形源电极62内布置在半导体材料层66之上的漏电极64;以及位于漏电极64和环形源电极64之间的有源沟道76,其中有源沟道76的一个表面包括暴露的半导体材料。而且,一种蛇形薄膜晶体管78,包括:布置在半导体材料层82之上的蛇形源电极80;布置在半导体材料层82上和基本位于由蛇形源电极80形成的凹槽之中的漏电极84,其中漏电极84基本符合该凹槽;以及位于漏电极84和蛇形源电极80之间的有源沟道98,其中有源沟道98具有基本恒定的长度,其中有源沟道98的一个表面包括暴露的半导体材料。
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公开(公告)号:CN106489205A
公开(公告)日:2017-03-08
申请号:CN201480067759.X
申请日:2014-09-08
Applicant: 通用电气公司
IPC: H01L27/146 , G01T1/20
CPC classification number: H01L27/14663 , G01T1/2018 , H01L27/14632 , H01L27/14636 , H01L27/14659 , H01L27/14687
Abstract: 公开了一种光电装置(40)。光电装置包括柔性衬底(34),设置在柔性衬底的第一表面上的薄膜晶体管(TFT)阵列(42),设置在TFT阵列上的光电二极管层(44),以及连接至TFT阵列并且设置在柔性衬底的第一表面上的多个数据线(52)和扫描线(54)。装置进一步包括设置在柔性衬底的与TFT阵列相反的第二表面上的电子设备信号模块组合件(30,32),以及穿过柔性衬底设置、将数据线和扫描线连接至电子设备信号模块组合件的互连(58)。
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公开(公告)号:CN102539454B
公开(公告)日:2016-08-10
申请号:CN201110306607.9
申请日:2011-09-27
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: H01L27/14658 , H01L27/14623 , H04N5/32 , H04N5/35563
Abstract: 本发明的名称为“具有增加的动态范围的数字X射线检测器”。在一个实施例中,为数字X射线检测器(22)配备多个像素区域(54)。每个像素区域(54)包含具有第一面积(116)的第一光电二极管(86)和具有等于或小于第一面积(116)的第二面积(122)的第二光电二极管(88)。数字X射线检测器(22)还包含屏蔽结构(94),其盖在每个像素区域(54)的第一(86)光电二极管和第二(88)光电二极管之上,同时屏蔽结构(94)相对第二光电二极管(88)按比例更少地屏蔽第一光电二极管(86),以提供具有第一灵敏度的第一光电二极管(86),以及具有低于第一灵敏度的第二灵敏度的第二光电二极管(88)。
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公开(公告)号:CN102539454A
公开(公告)日:2012-07-04
申请号:CN201110306607.9
申请日:2011-09-27
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: H01L27/14658 , H01L27/14623 , H04N5/32 , H04N5/35563
Abstract: 本发明的名称为“具有增加的动态范围的数字X射线检测器”。在一个实施例中,为数字X射线检测器(22)配备多个像素区域(54)。每个像素区域(54)包含具有第一面积(116)的第一光电二极管(86)和具有等于或小于第一面积(116)的第二面积(122)的第二光电二极管(88)。数字X射线检测器(22)还包含屏蔽结构(94),其盖在每个像素区域(54)的第一(86)光电二极管和第二(88)光电二极管之上,同时屏蔽结构(94)相对第二光电二极管(88)按比例更少地屏蔽第一光电二极管(86),以提供具有第一灵敏度的第一光电二极管(86),以及具有低于第一灵敏度的第二灵敏度的第二光电二极管(88)。
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公开(公告)号:CN101273898A
公开(公告)日:2008-10-01
申请号:CN200810087899.X
申请日:2008-03-27
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/482 , A61B6/032 , A61B6/4241 , G01T1/1642 , G01T1/2018
Abstract: 提供一种用于CT成像系统(10)的探测器模块(20),它包括将X射线(16)转换成可见光子的闪烁器(58)。闪烁器(58)与带内部增益的固态光电倍增管(53)光耦合以接收可见光子并将其转换为相应的电信号。
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公开(公告)号:CN106489205B
公开(公告)日:2020-08-21
申请号:CN201480067759.X
申请日:2014-09-08
Applicant: 通用电气公司
IPC: H01L27/146 , G01T1/20
Abstract: 公开了一种光电装置(40)。光电装置包括柔性衬底(34),设置在柔性衬底的第一表面上的薄膜晶体管(TFT)阵列(42),设置在TFT阵列上的光电二极管层(44),以及连接至TFT阵列并且设置在柔性衬底的第一表面上的多个数据线(52)和扫描线(54)。装置进一步包括设置在柔性衬底的与TFT阵列相反的第二表面上的电子设备信号模块组合件(30,32),以及穿过柔性衬底设置、将数据线和扫描线连接至电子设备信号模块组合件的互连(58)。
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公开(公告)号:CN101551462B
公开(公告)日:2013-09-18
申请号:CN200910118727.9
申请日:2009-01-09
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: H01L27/14663 , H01L27/14609 , H01L27/14636 , H04N5/357 , H04N5/374
Abstract: 一种双功能探测器装置,其以普通操作模式或EMI校正模式操作以抑制探测器(33)中的EMI效应。探测器装置(33)可是用在成像系统中的平板x射线探测器。所述装置具有像素构造(60)和板读出技术,该板读出技术能实时的、高空间频率的对由数字x射线探测器(33)上的电磁辐射产生的噪声进行测量。所述测量可用于实时校准探测器以获得所有环境中的无伪影图像,包括那些包含时间和空间变化电磁场的。
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