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公开(公告)号：CN102783958A
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：CN201210146083.6
申请日：2012-05-02
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/00
CPC classification number: A61B6/5205 , A61B6/4233 , A61B6/54
Abstract: 本公开涉及放射图像噪声减少系统和方法。用于控制X射线放射照相系统(10)的方法包括：从数字X射线检测器(22)采集数据；基于该采集的数据表征电磁干扰；基于该表征的电磁干扰选择电磁干扰补偿算法；基于该选择的电磁干扰补偿算法经由该数字X射线检测器(22)采集X射线成像数据(76)；以及处理该X射线成像数据(76)来产生能够采用用户看得见的形式重建的图像数据(84)。
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公开(公告)号：CN102539454B
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201110306607.9
申请日：2011-09-27
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: H01L27/14658 , H01L27/14623 , H04N5/32 , H04N5/35563
Abstract: 本发明的名称为“具有增加的动态范围的数字X射线检测器”。在一个实施例中，为数字X射线检测器(22)配备多个像素区域(54)。每个像素区域(54)包含具有第一面积(116)的第一光电二极管(86)和具有等于或小于第一面积(116)的第二面积(122)的第二光电二极管(88)。数字X射线检测器(22)还包含屏蔽结构(94)，其盖在每个像素区域(54)的第一(86)光电二极管和第二(88)光电二极管之上，同时屏蔽结构(94)相对第二光电二极管(88)按比例更少地屏蔽第一光电二极管(86)，以提供具有第一灵敏度的第一光电二极管(86)，以及具有低于第一灵敏度的第二灵敏度的第二光电二极管(88)。
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公开(公告)号：CN103313660A
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN201280005855.2
申请日：2012-01-20
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/00
CPC classification number: A61B6/4233 , A61B6/4411 , A61B6/4494 , A61B6/5205 , A61B6/56
Abstract: 一种X射线成像方法包括响应于源控制器而经由X射线辐射源来执行X射线暴露。该方法还包括在没有来自源控制器的定时信号的信息的情况下经由数字检测器对X射线图像数据采样。该方法进一步包括使至少一个成像帧或两个或以上成像帧的采样X射线图像数据与跨越暴露发生的持续时间的帧中的至少一个组合，来产生能够重建为用户可视图像的X射线图像数据。
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公开(公告)号：CN102539454A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201110306607.9
申请日：2011-09-27
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: H01L27/14658 , H01L27/14623 , H04N5/32 , H04N5/35563
Abstract: 本发明的名称为“具有增加的动态范围的数字X射线检测器”。在一个实施例中，为数字X射线检测器(22)配备多个像素区域(54)。每个像素区域(54)包含具有第一面积(116)的第一光电二极管(86)和具有等于或小于第一面积(116)的第二面积(122)的第二光电二极管(88)。数字X射线检测器(22)还包含屏蔽结构(94)，其盖在每个像素区域(54)的第一(86)光电二极管和第二(88)光电二极管之上，同时屏蔽结构(94)相对第二光电二极管(88)按比例更少地屏蔽第一光电二极管(86)，以提供具有第一灵敏度的第一光电二极管(86)，以及具有低于第一灵敏度的第二灵敏度的第二光电二极管(88)。
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公开(公告)号：CN102783958B
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201210146083.6
申请日：2012-05-02
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/00
CPC classification number: A61B6/5205 , A61B6/4233 , A61B6/54
Abstract: 本公开涉及放射图像噪声减少系统和方法。用于控制X射线放射照相系统(10)的方法包括：从数字X射线检测器(22)采集数据；基于该采集的数据表征电磁干扰；基于该表征的电磁干扰选择电磁干扰补偿算法；基于该选择的电磁干扰补偿算法经由该数字X射线检测器(22)采集X射线成像数据(76)；以及处理该X射线成像数据(76)来产生能够采用用户看得见的形式重建的图像数据(84)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103313659B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201280005853.3
申请日：2012-01-20
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/00
CPC classification number: A61B6/56 , A61B6/42 , A61B6/4411 , A61B6/4494
Abstract: X射线成像系统包括数字X射线检测器，其配置成在没有来自源控制器的信息的情况下采集X射线图像数据并且将该X射线图像数据发送到便携式检测器控制装置用于处理和图像预览。该源控制器配置成命令从X射线辐射源的X射线发射用于图像暴露。
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公开(公告)号：CN103313660B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201280005855.2
申请日：2012-01-20
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/00
CPC classification number: A61B6/4233 , A61B6/4411 , A61B6/4494 , A61B6/5205 , A61B6/56
Abstract: 一种X射线成像方法包括响应于源控制器而经由X射线辐射源来执行X射线暴露。该方法还包括在没有来自源控制器的定时信号的信息的情况下经由数字检测器对X射线图像数据采样。该方法进一步包括使至少一个成像帧或两个或以上成像帧的采样X射线图像数据与跨越暴露发生的持续时间的帧中的至少一个组合，来产生能够重建为用户可视图像的X射线图像数据。
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公开(公告)号：CN103314308A
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN201280005858.6
申请日：2012-01-20
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01T1/247 , A61B6/4494 , G01T1/24
Abstract: X射线成像方法包括：在数字X射线检测器中包括离散像元的阵列，每个包括光电二极管和晶体管；向离散像元的晶体管施加第一电压。该方法还包括通过从这些离散像元采样数据来为X射线图像数据的采集做准备同时向当时未被采样的离散像元的晶体管施加第二电压，该第二电压比第一电压负得多。该方法进一步包括在检测器上接收来自源的X射线辐射。该方法再进一步包括从离散像元采样X射线图像数据同时向当时未被采样的离散像元的晶体管施加第二电压。
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公开(公告)号：CN103313659A
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN201280005853.3
申请日：2012-01-20
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/00
CPC classification number: A61B6/56 , A61B6/42 , A61B6/4411 , A61B6/4494
Abstract: X射线成像系统包括数字X射线检测器，其配置成在没有来自源控制器的信息的情况下采集X射线图像数据并且将该X射线图像数据发送到便携式检测器控制装置用于处理和图像预览。该源控制器配置成命令从X射线辐射源的X射线的X射线发射用于图像暴露。
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公开(公告)号：CN103648384B
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201280020392.7
申请日：2012-04-20
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本发明公开一种X射线系统以及用于处理图像数据的方法，所述方法包括将数字检测器暴露于X射线辐射中。所述方法还包括通过所述数字检测器对数据进行取样，所述数据包括X射线图像数据和偏移图像数据。所述方法进一步包括在事先不知晓所取样的偏移图像帧总数的情况下计算平均偏移图像。
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