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公开(公告)号：CN111220581A
公开(公告)日：2020-06-02
申请号：CN201911172646.7
申请日：2019-11-26
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 边霄 , 约翰·卡里吉亚尼斯 , 斯蒂芬尼·哈雷尔 , 史蒂文斯·布沙尔 , 马克西姆·博杜安·波略特 , 韦恩·格雷迪 , 大卫·斯科特·迪温斯基 , 伯纳德·帕特里克·布莱
IPC: G01N21/64
Abstract: 一种检查系统，包括成像装置、可见光源、紫外线光源和至少一个处理器。成像装置在紫外线光源用紫外线光照射工件以使其上的荧光染料发射光的同时产生工件的第一图像组，并且在可见光源用可见光照射工件的同时产生工件的第二图像组。第一图像组和第二图像组在成像装置相对于工件的相同位置处产生。处理器基于第二图像组中所描绘的特征和成像装置的位置，将第二图像组映射到工件的计算机设计模型。处理器基于第一图像组的分析和计算机设计模型来确定工件上的缺陷位置。
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