公开(公告)号：CN118105060A

公开(公告)日：2024-05-31

申请号：CN202311602340.7

申请日：2023-11-28

Applicant: 赫克斯冈技术中心

Inventor： 杨征 ,  J·斯蒂格瓦尔 ,  T·延森

IPC: A61B5/107

Abstract: 根据阴影提供形状的测量系统包括测量设备及控制和处理单元。测量设备包括至少一个摄像头、第一及第二光学传感器，第一光学传感器提供第一视场并收集表示对象的第一部分的第一测量数据，第二光学传感器提供第二视场并收集表示对象的第二部分的第二测量数据。第二光学传感器包括从至少三个不同姿势对对象照明的至少三个光源。控制和处理单元包括第二捕获模式，其提供第二测量数据：执行至少三个照明步骤来从至少三个不同姿势对对象照明；通过针对各个照明步骤捕获图像捕获至少三个图像；基于对至少三个图像及光源的至少三个不同姿势进行处理导出表面形貌信息；控制和处理单元包括参考功能，其通过参考第一与第二测量数据提供经配准测量数据。

公开(公告)号：CN117739807A

公开(公告)日：2024-03-22

申请号：CN202311208961.7

申请日：2023-09-18

Applicant: 赫克斯冈技术中心

Inventor： T·延森 ,  杨征 ,  J·斯蒂格瓦尔

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明涉及具有弯曲反射器的传感器。一种传感器装置，其包括：回射元件，其具有前边界表面和后边界表面，前边界表面被配置为使测量光进入回射元件，并且后边界表面被配置为将测量光的第一部分反射为反射测量光并且将测量光的第二部分透射为透射测量光，其中，前边界表面和后边界表面是布置在回射元件的相反侧的；以及传感器单元，其按照使得透射测量光能够由传感器单元检测到的方式配置和布置。前边界表面和后边界表面具有弯曲形状，回射元件是按照使得在前边界表面进入回射元件的测量光被聚焦在后边界表面的方式配置的，并且测量光相对于传感器装置的入射角等于反射测量光相对于传感器装置的出射角。

公开(公告)号：CN119223157A

公开(公告)日：2024-12-31

申请号：CN202410809967.8

申请日：2024-06-21

Applicant: 赫克斯冈技术中心

Inventor： T·延森 ,  J·斯蒂格瓦尔 ,  F·皮尔扎格达

IPC: G01B11/00 ,  G02B3/14 ,  G02B26/00

Abstract: 本发明涉及具有可调聚焦透镜的坐标测量机。一种用于测量表面上的多个测量点的坐标测量机(1)包括基座(2)、具有光学探针(41)的探头(4)、用于将探头(4)连接到基座(2)的机器结构(3)、用于提供探头(4)相对于基座(2)的移动性的至少一个驱动机构、至少一个编码单元、布置在机器结构(3)处的光学概观传感器单元(50)以及至少适于控制驱动机构的控制和处理单元。光学探针(41)包括光学检测单元、能够修改其焦距的可变焦距透镜(42)以及致动单元，该致动单元构造和相对于可变焦距透镜(42)布置成使得致动单元根据控制信号提供焦距的设定和改变。

公开(公告)号：CN117739928A

公开(公告)日：2024-03-22

申请号：CN202311152851.3

申请日：2023-09-07

Applicant: 赫克斯冈技术中心

Inventor： T·延森 ,  J·斯蒂格瓦尔

IPC: G01C15/00

Abstract: 本发明涉及用于光学系统的监测装置。光学检测单元包括后向反射元件，其提供反射表面和穿透表面，反射表面被配置为将测量光的第一部分后向反射为反射测量光，以提供光学检测单元的位置的确定，穿透表面被配置为透射测量光的第二部分作为透射测量光，光学检测单元还包括传感器装置，传感器装置具有传感器，传感器被配置和布置在后向反射元件后面，使得透射测量光能够被传感器检测。光学检测单元包括具有被配置为发射参考照射光的至少一个照射单元的参考组件。至少一个照射单元被布置成与后向反射元件和/或传感器装置具有固定位置关系，并且参考组件被配置和布置成将参考照射光引导到传感器上。