一种薄带材晶粒显现的方法及薄带材金相检测方法

    公开(公告)号:CN119023374A

    公开(公告)日:2024-11-26

    申请号:CN202310586793.9

    申请日:2023-05-23

    Abstract: 本发明公开了一种薄带材晶粒显现的方法及薄带材金相检测方法,该方法通过热处理方式使薄带材材料产生晶界重塑,在光洁的带材表面显现出清晰的晶粒大小;包括以下步骤:取样,得到样件;浇样,将样件平整的放入金相镶嵌机,利用热固性材料粉末浇样使样件镶嵌在固化的酚醛试样中;抛光研磨,利用金相抛光机先对浇样后的样件进行粗磨后再进行精磨,保证样件表面达镜面要求,粗糙达Ra0.4以下;清洗,对抛光研磨后的样件进行清洗和脱水,并吹干;样件取下,进行热处理后冷却使样件表面晶界和晶粒大小显现。本显现方法通过金相镶嵌机对薄带材进行浇样,解决了薄带材抛光研磨提高表面光洁难的问题;热处理方式可以让薄带材晶界更加清晰。

    一种永磁体吸力量化装置及砝码

    公开(公告)号:CN210690795U

    公开(公告)日:2020-06-05

    申请号:CN201921475537.8

    申请日:2019-09-06

    Abstract: 本实用新型公开了一种永磁体吸力量化装置及砝码,该装置包括电子天平(1)和支撑板(9),所述支撑板(9)通过支架部件支撑于所述电子天平(1)的托盘上方;所述电子天平(1)的托盘用于放置砝码(7)。本实用新型设计以电子天平进行吸力值量化工具,可直观地反馈永磁体吸力值;同时测量精度高,根据不同需求选择电子天平精度,可检测到永磁体吸力mg级波动,因此适用于尺寸很小或吸力很小的永磁体吸力测量。

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