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公开(公告)号:CN106093624B
公开(公告)日:2018-11-23
申请号:CN201610378291.7
申请日:2016-05-31
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 一种多通道数字相关器性能测试方法,首先产生两路非相关噪声信号,并分别进行功分处理,将功分得到的两路功分信号进行移相得到两路噪声信号,其余两路进行衰减、合路后得到第三路噪声信号,调节衰减量、移相值直至三路噪声信号满足要求,然后将三路噪声信号进行功分处理得到多路待测试源通道并送至待测试数字相关器,得到实测复相关值,同时计算得到预期复相关值,最后根据实测复相关值、预期复相关值得到待测试数字相关器精度并完成当待测试数字相关器精度测试。本发明方法通过使用切换控制矩阵器实现了待测试数字相关器多路通道同时测试,解决了现有技术中人为操作过多及长时间性能漂移引入误差的问题,具有较好的适用价值。
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公开(公告)号:CN106093624A
公开(公告)日:2016-11-09
申请号:CN201610378291.7
申请日:2016-05-31
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/00
Abstract: 一种多通道数字相关器性能测试方法,首先产生两路非相关噪声信号,并分别进行功分处理,将功分得到的两路功分信号进行移相得到两路噪声信号,其余两路进行衰减、合路后得到第三路噪声信号,调节衰减量、移相值直至三路噪声信号满足要求,然后将三路噪声信号进行功分处理得到多路待测试源通道并送至待测试数字相关器,得到实测复相关值,同时计算得到预期复相关值,最后根据实测复相关值、预期复相关值得到待测试数字相关器精度并完成当待测试数字相关器精度测试。本发明方法通过使用切换控制矩阵器实现了待测试数字相关器多路通道同时测试,解决了现有技术中人为操作过多及长时间性能漂移引入误差的问题,具有较好的适用价值。
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