-
公开(公告)号：CN106547189A
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：CN201611049448.8
申请日：2016-11-25
Applicant: 西安科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于脉冲激光器的反射式数字全息显微成像系统及方法，该系统包括光学成像子系统和用于控制光学成像子系统工作的同步控制子系统，光学成像子系统包括依次设置的脉冲激光器、激光衰减器、转向装置、光束传递装置和全息成像装置；同步控制子系统包括工控主机和同步控制器；该方法包括步骤：一、搭建全息显微成像系统；二、脉冲激光器与数字相机的同步控制；三、获取全息图数据；四、试样表面三维形貌全息图像显示。本发明设计新颖，通过对脉冲激光器和数字相机的同步控制，获取高频微振动试样全息图，利用四个分束镜完成光路干涉，避免了光路中由自身部件引起反射杂散光进入全息图，全息图质量高。
-
公开(公告)号：CN106547189B
公开(公告)日：2019-11-15
申请号：CN201611049448.8
申请日：2016-11-25
Applicant: 西安科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于脉冲激光器的反射式数字全息显微成像系统及方法，该系统包括光学成像子系统和用于控制光学成像子系统工作的同步控制子系统，光学成像子系统包括依次设置的脉冲激光器、激光衰减器、转向装置、光束传递装置和全息成像装置；同步控制子系统包括工控主机和同步控制器；该方法包括步骤：一、搭建全息显微成像系统；二、脉冲激光器与数字相机的同步控制；三、获取全息图数据；四、试样表面三维形貌全息图像显示。本发明设计新颖，通过对脉冲激光器和数字相机的同步控制，获取高频微振动试样全息图，利用四个分束镜完成光路干涉，避免了光路中由自身部件引起反射杂散光进入全息图，全息图质量高。
-
公开(公告)号：CN105784845B
公开(公告)日：2017-09-12
申请号：CN201610312231.5
申请日：2016-05-11
Applicant: 西安科技大学
Abstract: 本发明公开了一种超声波场的光学全息测量方法，其采用的测量系统包括光全息光路，还包括计算机、压电晶片和功率放大器，计算机上接有同步控制器和数字相机，同步控制器上接有波形发生器和脉冲激光器；光全息光路包括物光光路、参考光光路和第一分束镜，物光光路包括依次设置的扩束镜、第二分束镜和第一反射镜，参考光光路包括设置在第二分束镜下方的第三分束镜和设置在第三分束镜下方的第二反射镜，第一分束镜设置在第一反射镜的下方，压电晶片设置在第一分束镜的正下方；其方法包括十个步骤，从全息图数据中重构得到超声波声场。本发明实现方便，灵敏度高，测量精度高，测量效率高，频带宽，空间分辨率高，实用性强，使用效果好，便于推广使用。
-
公开(公告)号：CN105842252B
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201610311495.9
申请日：2016-05-11
Applicant: 西安科技大学
Abstract: 本发明公开了一种光声复合三维微纳成像检测系统，包括光全息光路，还包括计算机、显微镜、用于放置固体样品的压电晶片和用于驱动压电晶片振动的功率放大器，计算机上接有同步控制器和数字相机，同步控制器上接有波形发生器和脉冲激光器；光全息光路包括物光光路、参考光光路和第一分束立方镜，物光光路包括第二分束立方镜、第一扩束镜和第一反射镜，参考光光路包括第三分束镜、第二反射镜和第二扩束镜；本发明还公开了一种光声复合三维微纳成像检测方法。本发明设计合理，实现方便，能够适用于不同厚度的固体样品的缺陷检测，检测速度快，检测精度和可靠度高，真正实现了无损检测，实用性强，应用范围广，便于推广使用。
-
公开(公告)号：CN117269331A
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202311020671.X
申请日：2023-08-14
Applicant: 西安科技大学
IPC: G01N29/44
Abstract: 本发明属于超声无损检测技术领域，特别涉及一种用于重叠超声信号分解中超声信号分离与超声回波估计的多分辨率稀疏分解算法。的算法将给定的超声波信号通过不断迭代，在每次迭代中将信号分割成两段，并使用支持匹配追踪算法在参数有着更细化离散步长的离散Gabor字典上分解各段信号来分离严重重叠的超声回波。同时，在每次迭代中都会通过压缩Gabor函数中参数的上下边界和细化参数的离散步长生成一个新的离散Gabor字典。在不增加字典内原子数的前提下，逐步减小字典参数的离散间距，用以实现在每次算法迭代后，超声回波与所得到的原子的匹配程度会逐步提升的效果。在每次迭代中通过信号分割得到的信号段会在比之前更高尺度的分辨率下被分解，在粗尺度上无法被分离开来的重叠回波将能够在更高的尺度上被分离，以此逐渐提高回波分离与回波估计的精度。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117218145A
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202311019227.6
申请日：2023-08-14
Applicant: 西安科技大学
Abstract: 本发明属于超声显微成像技术领域，特别涉及一种用于微电子封装中焊点超声显微图像特征提取方法及系统。通过中值滤波去除了焊点图像中常见的椒盐噪声；通过逐行逐列求取焊点图像灰度值最小点确定焊点图像中心区域的边缘；根据形态学膨胀腐蚀算法得到焊点图像中心区域的单像素边缘。该方法能够很好的处理受边缘效应影响的焊点图像，准确的圈定出焊点图像的感兴趣区域。方法的普适性被超过10万张焊点图像验证，与传统边缘检测方法相比有了显著的提升，边缘检出率高达95.8％；将焊点图像中的灰度值最小点与焊点的物理边缘对应起来，为通过边缘检测算法检测和提取到的图像边缘赋予了现实的物理意义。
-
公开(公告)号：CN105842252A
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201610311495.9
申请日：2016-05-11
Applicant: 西安科技大学
CPC classification number: G01N21/8851 , G01N29/0663 , G01N29/0672 , G01N29/069 , G01N29/07 , G01N2021/888 , G01N2021/8887 , G01N2201/06113 , G01N2291/011 , G01N2291/023 , G01N2291/0289
Abstract: 本发明公开了一种光声复合三维微纳成像检测系统，包括光全息光路，还包括计算机、显微镜、用于放置固体样品的压电晶片和用于驱动压电晶片振动的功率放大器，计算机上接有同步控制器和数字相机，同步控制器上接有波形发生器和脉冲激光器；光全息光路包括物光光路、参考光光路和第一分束立方镜，物光光路包括第二分束立方镜、第一扩束镜和第一反射镜，参考光光路包括第三分束镜、第二反射镜和第二扩束镜；本发明还公开了一种光声复合三维微纳成像检测方法。本发明设计合理，实现方便，能够适用于不同厚度的固体样品的缺陷检测，检测速度快，检测精度和可靠度高，真正实现了无损检测，实用性强，应用范围广，便于推广使用。
-
公开(公告)号：CN105784845A
公开(公告)日：2016-07-20
申请号：CN201610312231.5
申请日：2016-05-11
Applicant: 西安科技大学
CPC classification number: G01N29/07 , G01N2291/011 , G01N2291/012 , G01N2291/023 , G03H1/0406
Abstract: 本发明公开了一种超声波场的光学全息测量系统，包括光全息光路，还包括计算机、压电晶片和功率放大器，计算机上接有同步控制器和数字相机，同步控制器上接有波形发生器和脉冲激光器；光全息光路包括物光光路、参考光光路和第一分束镜，物光光路包括依次设置的扩束镜、第二分束镜和第一反射镜，参考光光路包括设置在第二分束镜下方的第三分束镜和设置在第三分束镜下方的第二反射镜，第一分束镜设置在第一反射镜的下方，压电晶片设置在第一分束镜的正下方；本发明还公开了一种超声波场的光学全息测量方法。本发明实现方便，灵敏度高，测量精度高，测量效率高，频带宽，空间分辨率高，实用性强，使用效果好，便于推广使用。
-
公开(公告)号：CN205607927U
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201620426794.2
申请日：2016-05-11
Applicant: 西安科技大学
Abstract: 本实用新型公开了一种超声波场的光学全息测量系统，包括光全息光路，还包括计算机、压电晶片和功率放大器，计算机上接有同步控制器和数字相机，同步控制器上接有波形发生器和脉冲激光器；光全息光路包括物光光路、参考光光路和第一分束镜，物光光路包括依次设置的扩束镜、第二分束镜和第一反射镜，参考光光路包括设置在第二分束镜下方的第三分束镜和设置在第三分束镜下方的第二反射镜，第一分束镜设置在第一反射镜的下方，压电晶片设置在第一分束镜的正下方。本实用新型实现方便，灵敏度高，测量精度高，测量效率高，频带宽，空间分辨率高，实用性强，使用效果好，便于推广使用。
-
公开(公告)号：CN205607883U
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201620426980.6
申请日：2016-05-11
Applicant: 西安科技大学
Abstract: 本实用新型公开了一种光声复合三维微纳成像检测系统，包括光全息光路，还包括计算机、显微镜、用于放置固体样品的压电晶片和用于驱动压电晶片振动的功率放大器，计算机上接有同步控制器和数字相机，同步控制器上接有波形发生器和脉冲激光器；光全息光路包括物光光路、参考光光路和第一分束立方镜，物光光路包括依次设置的第二分束立方镜、第一扩束镜和第一反射镜，参考光光路包括第三分束镜和第二反射镜，以及第二扩束镜，压电晶片设置在显微镜的正下方。本实用新型设计合理，实现方便，能够适用于不同厚度的固体样品的缺陷检测，检测速度快，检测精度和可靠度高，真正实现了无损检测，实用性强，应用范围广，便于推广使用。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
10
records
(took 0.023 seconds)
