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公开(公告)号：CN105865686B
公开(公告)日：2018-04-03
申请号：CN201610247746.1
申请日：2016-04-20
Applicant: 西安科技大学
IPC: G01L5/00 , G01M11/00 , G01B11/255
Abstract: 本发明公开了一种牛顿环应力测量装置，包括底座，底座的凹槽中放置有传感器，传感器的探头高于底座的凹槽上表面，传感器的探头上放置有平面镜，平面镜上放置有平凸透镜，平凸透镜的凸面与平面镜接触，平凸透镜的平面边缘上放置有上盖，上盖通过固定螺丝与底座连接，上盖与底座之间有空隙；传感器的信号线穿过底座上的通孔与测量仪器连接，测量仪器用于显示传感器采集到的应力。使用本发明一种牛顿环应力测量装置，可以精确测量由于螺丝松紧程度造成的玻璃体发生形变时受到的应力，从而提高了曲率半径的测量精度。
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公开(公告)号：CN106596265B
公开(公告)日：2019-07-30
申请号：CN201611148051.4
申请日：2016-12-13
Applicant: 西安科技大学
Abstract: 本发明公开了一种利用光干涉法测量光学平板玻璃体积模量的方法，具体按照以下步骤实施：步骤1：通过螺丝施加应力于光学平板玻璃，并通过测量仪器显示应力传感器测量的应力，记录下应力的大小；步骤2：保持步骤1中的应力不变，通过读数显微镜读取在该应力下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q，然后计算出黑斑的半径r；步骤3：通过螺丝改变应力的值，重复步骤1和步骤2，得到光学平板玻璃的不同应力及对应不同应力情况下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q及半径r；步骤4：计算光学平板玻璃的体积模量K。本发明测量方法简单，且测量周期相比传统缩短，测量应用范围扩大，没有大量的材料耗损，测量性重复好，且可用于测量小样品光学平板玻璃。
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公开(公告)号：CN106769459A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611146179.7
申请日：2016-12-13
Applicant: 西安科技大学
IPC: G01N3/08
Abstract: 本发明公开了一种利用光干涉法测量光学平板玻璃弹性模量的方法，具体按照以下步骤实施：步骤1：通过螺丝施加应力于光学平板玻璃，并通过测量仪器显示应力传感器测量的应力，记录下应力的大小；步骤2：保持步骤1中的应力不变，通过读数显微镜读取在该应力下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q，然后计算出黑斑的半径r；步骤3：通过螺丝改变应力的值，重复步骤1和步骤2，得到光学平板玻璃的不同应力及对应不同应力情况下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q及半径r；步骤4：计算光学平板玻璃的弹性模量E。本发明测量方法简单，且测量周期相比传统缩短，测量应用范围扩大，没有大量的材料耗损，测量性重复好，且可用于测量小样品光学平板玻璃。
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公开(公告)号：CN106596256A
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201611147159.1
申请日：2016-12-13
Applicant: 西安科技大学
CPC classification number: G01N3/068 , G01M11/08 , G01N3/00 , G01N2203/0003 , G01N2203/0037 , G01N2203/0075
Abstract: 本发明公开了可测量弯曲刚度、弹性模量、剪切模量、体积模量的装置，包括底座，底座的凹槽中放置有应力传感器，应力传感器的探头高于底座的凹槽上表面，应力传感器的探头上放置有平凸透镜，平凸透镜上放置有光学平板玻璃，平凸透镜的凸面与光学平板玻璃接触，光学平板玻璃的上表面边缘上放置有上盖，上盖通过固定螺丝与底座连接，上盖与底座之间有空隙；应力传感器的信号线穿过底座上的通孔与测量仪器连接，测量仪器用于显示应力传感器采集到的应力。本发明装置结构简单，解决了现有每种不同的特性量需要专门的测量仪器测量的问题。
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公开(公告)号：CN106769532B
公开(公告)日：2019-07-30
申请号：CN201611146159.X
申请日：2016-12-13
Applicant: 西安科技大学
Abstract: 本发明公开了一种利用光干涉法测量光学平板玻璃弯曲刚度的方法，具体按照以下步骤实施：步骤1：通过螺丝施加应力于光学平板玻璃，并通过测量仪器显示应力传感器测量的应力，记录下应力的大小；步骤2：保持步骤1中的应力不变，通过读数显微镜读取在该应力下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q，然后计算出黑斑的半径r；步骤3：通过螺丝改变应力的值，重复步骤1和步骤2，得到光学平板玻璃的不同应力及对应不同应力情况下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q及半径r；步骤4：计算光学平板玻璃的弯曲刚度D。本发明测量方法简单，且测量周期相比传统缩短，测量应用范围扩大，没有大量的材料耗损，测量性重复好，且可用于测量小样品光学平板玻璃。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106769532A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611146159.X
申请日：2016-12-13
Applicant: 西安科技大学
Abstract: 本发明公开了一种利用光干涉法测量光学平板玻璃弯曲刚度的方法，具体按照以下步骤实施：步骤1：通过螺丝施加应力于光学平板玻璃，并通过测量仪器显示应力传感器测量的应力，记录下应力的大小；步骤2：保持步骤1中的应力不变，通过读数显微镜读取在该应力下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q，然后计算出黑斑的半径r；步骤3：通过螺丝改变应力的值，重复步骤1和步骤2，得到光学平板玻璃的不同应力及对应不同应力情况下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q及半径r；步骤4：计算光学平板玻璃的弯曲刚度D。本发明测量方法简单，且测量周期相比传统缩短，测量应用范围扩大，没有大量的材料耗损，测量性重复好，且可用于测量小样品光学平板玻璃。
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公开(公告)号：CN105865686A
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201610247746.1
申请日：2016-04-20
Applicant: 西安科技大学
IPC: G01L5/00 , G01M11/00 , G01B11/255
CPC classification number: G01L5/00 , G01B11/255 , G01M11/00
Abstract: 本发明公开了一种牛顿环应力测量装置，包括底座，底座的凹槽中放置有传感器，传感器的探头高于底座的凹槽上表面，传感器的探头上放置有平面镜，平面镜上放置有平凸透镜，平凸透镜的凸面与平面镜接触，平凸透镜的平面边缘上放置有上盖，上盖通过固定螺丝与底座连接，上盖与底座之间有空隙；传感器的信号线穿过底座上的通孔与测量仪器连接，测量仪器用于显示传感器采集到的应力。使用本发明一种牛顿环应力测量装置，可以精确测量由于螺丝松紧程度造成的玻璃体发生形变时受到的应力，从而提高了曲率半径的测量精度。
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公开(公告)号：CN106769459B
公开(公告)日：2019-07-30
申请号：CN201611146179.7
申请日：2016-12-13
Applicant: 西安科技大学
IPC: G01N3/08
Abstract: 本发明公开了一种利用光干涉法测量光学平板玻璃弹性模量的方法，具体按照以下步骤实施：步骤1：通过螺丝施加应力于光学平板玻璃，并通过测量仪器显示应力传感器测量的应力，记录下应力的大小；步骤2：保持步骤1中的应力不变，通过读数显微镜读取在该应力下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q，然后计算出黑斑的半径r；步骤3：通过螺丝改变应力的值，重复步骤1和步骤2，得到光学平板玻璃的不同应力及对应不同应力情况下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q及半径r；步骤4：计算光学平板玻璃的弹性模量E。本发明测量方法简单，且测量周期相比传统缩短，测量应用范围扩大，没有大量的材料耗损，测量性重复好，且可用于测量小样品光学平板玻璃。
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公开(公告)号：CN106644760A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611148049.7
申请日：2016-12-13
Applicant: 西安科技大学
Abstract: 本发明公开了一种利用光干涉法测量光学平板玻璃剪切模量的方法，具体按照以下步骤实施：步骤1：通过螺丝施加应力于光学平板玻璃，并通过测量仪器显示应力传感器测量的应力，记录下应力的大小；步骤2：保持步骤1中的应力不变，通过读数显微镜读取在该应力下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q，然后计算出黑斑的半径r；步骤3：通过螺丝改变应力的值，重复步骤1和步骤2，得到光学平板玻璃的不同应力及对应不同应力情况下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q及半径r；步骤4：计算光学平板玻璃的剪切模量G。本发明测量方法简单，且测量周期相比传统缩短，测量应用范围扩大，没有大量的材料耗损，测量性重复好，且可用于测量小样品光学平板玻璃。
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公开(公告)号：CN106596265A
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201611148051.4
申请日：2016-12-13
Applicant: 西安科技大学
Abstract: 本发明公开了一种利用光干涉法测量光学平板玻璃体积模量的方法，具体按照以下步骤实施：步骤1：通过螺丝施加应力于光学平板玻璃，并通过测量仪器显示应力传感器测量的应力，记录下应力的大小；步骤2：保持步骤1中的应力不变，通过读数显微镜读取在该应力下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q，然后计算出黑斑的半径r；步骤3：通过螺丝改变应力的值，重复步骤1和步骤2，得到光学平板玻璃的不同应力及对应不同应力情况下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q及半径r；步骤4：计算光学平板玻璃的体积模量K。本发明测量方法简单，且测量周期相比传统缩短，测量应用范围扩大，没有大量的材料耗损，测量性重复好，且可用于测量小样品光学平板玻璃。
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