公开(公告)号：CN117667543A

公开(公告)日：2024-03-08

申请号：CN202311648641.3

申请日：2023-12-04

Applicant: 西安电子科技大学

Inventor： 任获荣 ,  董镇玮 ,  李拓 ,  吕银飞 ,  焦昶哲 ,  赵丹

IPC: G06F11/22 ,  G06N3/0455 ,  G06N3/08

Abstract: 本发明公开了一种基于神经网络和分布算法的多芯片并行筛选方法，包括：获取具有多个目标芯片的目标检测芯片组的电性能数据；将目标检测芯片组的电性能数据输入训练完备的类transformer神经网络，得到重构的电性能数据；训练完备的类transformer神经网络是根据与多个目标芯片的功能相近的多个芯片的电性能数据，以及多个目标芯片的电性能数据，对初始类transformer神经网络训练得到；基于目标检测芯片组的电性能数据和重构的电性能数据，确定目标检测芯片组的重构中心偏差与重构边缘偏差；基于重构中心偏差和重构边缘偏差，确定目标检测芯片组的性能评分向量；性能评分向量表征多个目标芯片中各个目标芯片的性能评分。本发明可以提高芯片性能检测的精确性。