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公开(公告)号:CN104679964B
公开(公告)日:2018-08-24
申请号:CN201510125644.8
申请日:2015-03-21
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种基于MATLAB编程的HBT电路芯片温度分析方法,主要解决传统有限元分析方法分析的电路规模小、手工输入功耗繁琐的问题。其主要步骤为:1.获取HBT器件几何尺寸,材料热导率;2.对器件建模,并对单个器件作有限元温度分析;3.把单各器件的温度分布进行函数拟合;4.用电路软件仿真,获取各器件功耗,将其标注在版图上;5.导出GDSII格式版图文件,再转换为DXF格式;6.用MATLAB编程,提取版图上器件的坐标和功耗,计算各器件的工作温度,作出温度分布图。本发明能在集成电路物理设计的时间使用,可用于预测电路工作时HBT器件的稳态温度和版图上的热点位置,提高电路工作稳定性。
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公开(公告)号:CN104679964A
公开(公告)日:2015-06-03
申请号:CN201510125644.8
申请日:2015-03-21
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种基于MATLAB编程的HBT电路芯片温度分析方法,主要解决传统有限元分析方法分析的电路规模小、手工输入功耗繁琐的问题。其主要步骤为:1.获取HBT器件几何尺寸,材料热导率;2.对器件建模,并对单个器件作有限元温度分析;3.把单各器件的温度分布进行函数拟合;4.用电路软件仿真,获取各器件功耗,将其标注在版图上;5.导出GDSII格式版图文件,再转换为DXF格式;6.用MATLAB编程,提取版图上器件的坐标和功耗,计算各器件的工作温度,作出温度分布图。本发明能在集成电路物理设计的时间使用,可用于预测电路工作时HBT器件的稳态温度和版图上的热点位置,提高电路工作稳定性。
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