无需助粘剂的瞬态胶带转印方法

    公开(公告)号:CN109950142B

    公开(公告)日:2022-05-31

    申请号:CN201910224900.7

    申请日:2019-03-24

    Abstract: 本发明公开了一种无需助粘剂的高效率和保真度的瞬态胶带转印法,主要解决现有基于PDMS的转印技术转印效率低、保真度低、操作难度大的问题。其实现方案是:1)在SOI基片上制备单晶硅薄膜;2)在单晶硅薄膜上制备光刻胶锚点,并对SOI基片的埋氧化层进行刻蚀;3)取用瞬态胶带拾取SOI基片上的单晶硅薄膜;4)将带有单晶硅薄膜的瞬态胶带与接收衬底耦合;5)将耦合后的体系放入丙酮溶液中浸泡后再捞出吹干去除其胶带溶解的残留物,完成高效率、高保真度的转印。本发明改变了传统的转印方式,增强了转印技术的可靠性,降低了工艺难度和成本,具有更高的转印效率与保真度,可用于异质集成芯片制作。

    基于智能剥离技术的单片异质集成Cascode氮化镓高迁移率晶体管及制作方法

    公开(公告)号:CN110634861A

    公开(公告)日:2019-12-31

    申请号:CN201910860757.0

    申请日:2019-09-11

    Abstract: 本发明公开了基于智能剥离技术的单片异质集成Cascode氮化镓高迁移率晶体管,由GaN高电子迁移率晶体管和Si金属氧化物半导体场效应晶体管组合而成,其自下而上包括:衬底(1)、GaN缓冲层(2)、AlGaN势垒层(3),AlGaN势垒层的中间刻有隔离槽(4),以对所组合的两种晶体管进行电气隔离;隔离槽一侧的AlGaN势垒层上设有GaN高电子迁移率晶体管的源、漏、栅电极;隔离槽另一侧的AlGaN势垒层一侧上设有Si有源层(5);该Si有源层键合到隔离槽一侧的AlGaN势垒层上,形成硅与氮化镓异质集成的单片芯片。本发明降低了制造成本,增强了器件的可靠性,可用于电源转换器及反相器电源控制与转换。

    基于键合的单片异质集成Cascode氮化镓高迁移率晶体管及制作方法

    公开(公告)号:CN110610936A

    公开(公告)日:2019-12-24

    申请号:CN201910860761.7

    申请日:2019-09-11

    Abstract: 本发明公开了基于键合的单片异质集成Cascode氮化镓高迁移率晶体管,主要解决现有Cascode氮化镓高电子迁移率晶体管不能大面积单片集成的问题。其自上而下包括:衬底(1)、GaN缓冲层(2)、AlGaN势垒层(3),该AlGaN势垒层(3)的中间刻有隔离槽(4),用于对GaN高电子迁移率晶体管和Si金属氧化物半导体场效应晶体管进行电气隔离;Si有源层(5)印制到隔离槽一侧的AlGaN势垒层(3)上面,形成硅与氮化镓异质集成的单片芯片。本发明可以实现晶圆级制造,增强了器件的可靠性,提高了芯片集成度,可用于电源转换器、反相器进行电源控制与转换的场景。

    基于智能剥离技术的单片异质集成Cascode氮化镓高迁移率晶体管及制作方法

    公开(公告)号:CN110634861B

    公开(公告)日:2021-10-29

    申请号:CN201910860757.0

    申请日:2019-09-11

    Abstract: 本发明公开了基于智能剥离技术的单片异质集成Cascode氮化镓高迁移率晶体管,由GaN高电子迁移率晶体管和Si金属氧化物半导体场效应晶体管组合而成,其自下而上包括:衬底(1)、GaN缓冲层(2)、AlGaN势垒层(3),AlGaN势垒层的中间刻有隔离槽(4),以对所组合的两种晶体管进行电气隔离;隔离槽一侧的AlGaN势垒层上设有GaN高电子迁移率晶体管的源、漏、栅电极;隔离槽另一侧的AlGaN势垒层一侧上设有Si有源层(5);该Si有源层键合到隔离槽一侧的AlGaN势垒层上,形成硅与氮化镓异质集成的单片芯片。本发明降低了制造成本,增强了器件的可靠性,可用于电源转换器及反相器电源控制与转换。

    无需助粘剂的瞬态胶带转印方法

    公开(公告)号:CN109950142A

    公开(公告)日:2019-06-28

    申请号:CN201910224900.7

    申请日:2019-03-24

    Abstract: 本发明公开了一种无需助粘剂的高效率和保真度的瞬态胶带转印法,主要解决现有基于PDMS的转印技术转印效率低、保真度低、操作难度大的问题。其实现方案是:1)在SOI基片上制备单晶硅薄膜;2)在单晶硅薄膜上制备光刻胶锚点,并对SOI基片的埋氧化层进行刻蚀;3)取用瞬态胶带拾取SOI基片上的单晶硅薄膜;4)将带有单晶硅薄膜的瞬态胶带与接收衬底耦合;5)将耦合后的体系放入丙酮溶液中浸泡后再捞出吹干去除其胶带溶解的残留物,完成高效率、高保真度的转印。本发明改变了传统的转印方式,增强了转印技术的可靠性,降低了工艺难度和成本,具有更高的转印效率与保真度,可用于异质集成芯片制作。

    基于溶液法的单片异质集成Cascode氮化镓高迁移率晶体管及制作方法

    公开(公告)号:CN110610938B

    公开(公告)日:2021-11-02

    申请号:CN201910860000.1

    申请日:2019-09-11

    Abstract: 本发明公开了基于溶液法的单片异质集成Cascode氮化镓高迁移率晶体管,该器件由氮化镓高电子迁移率晶体管和氧化锌晶体管组合而成,其自下而上包括:衬底(1)、GaN缓冲层(2)、AlGaN势垒层(3),AlGaN势垒层的中间刻有隔离槽(4),以对所组合的两种晶体管进行电气隔离;隔离槽一侧的AlGaN势垒层上设有GaN高电子迁移率晶体管的源、漏、栅电极;隔离槽另一侧的AlGaN势垒层一侧上设有Al2O3绝缘层、ZnO薄膜以及氧化锌晶体管的源、漏、栅极,形成硅与氮化镓异质集成的单片芯片。本发明降低了制造成本,减小了芯片所占面积,提高了集成度,可用于汽车、航空航天、发电站中大规模集成电路的制造。

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