一种二维宽角扫描阵列天线
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114725694A

    公开(公告)日:2022-07-08

    申请号:CN202210328678.7

    申请日:2022-03-30

    Abstract: 本发明公开了一种二维宽角扫描阵列天线。其中,该天线包括:从下向上依次设置的地板、第一层介质板、AMC结构、第二层介质板、第三层介质板、设置在所述第三层介质板上方的电偶极子,以及设置在所述第三层介质板下方和所述地板之间的磁偶极子;所述电偶极子和所述磁偶极子用于分别产生同相的电流和磁流;所述AMC结构的电面呈现PEC结构,所述AMC结构的磁面呈现AMC结构,以实现天线阵列沿着X轴和Y轴的二维宽角扫描,同时,本实施例中的天线的设计工艺简单、成本较低、结构稳定、加工技术成熟,良品率高,适合大规模量产。

    双频双极化毫米波阵列天线和具有其的电子设备

    公开(公告)号:CN116646721A

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN202310661776.7

    申请日:2023-06-06

    Abstract: 本申请涉及一种具有宽角扫描能力的双频双极化毫米波阵列天线和具有其的电子设备。毫米波阵列天线包括自上而下依次层叠且彼此隔开的:高频辐射层,包括周期排列的多个高频辐射单元,所述高频辐射单元为具有第一工作频段的双极化辐射单元;低频辐射层,包括周期排列的多个低频辐射单元,低频辐射单元为具有第二工作频段的双极化辐射单元,第二工作频段与第一工作频段无重叠,且第二工作频段低于第一工作频段;电磁带隙层,具有彼此无重叠的第三工作频段和第四工作频段,第四工作频段低于第三工作频段,第三工作频段与第一工作频段对应,第四工作频段与第二工作频段对应。

    一种多探头近场OTA测试系统的多通道测试方法

    公开(公告)号:CN112180180A

    公开(公告)日:2021-01-05

    申请号:CN202010875171.4

    申请日:2020-08-27

    Abstract: 本发明公开了一种多探头近场OTA测试系统的多通道测试方法,所述多探头近场OTA测试系统内包括待测设备及双极化探头,所述多通道测试方法为:使用多台网络分析仪同时向待测设备进行功率发射;所述多台网络分析仪发射的相同功率经过一台合路器,将多路信号合为一路信号再传输到待测设备。双极化探头为多个,多个双极化探头接收到的待测设备天线辐射信号,分别同时输出到网络分析仪的各个接收端口,获得待测设备的空间辐射性能。本发明通过采用多个发送和接收通道与待测设备及双极化探头,形成多路发射和多路接收并行进行,使得测试时间缩短,开关个数减少。

    OTA测试系统
    6.
    实用新型

    公开(公告)号:CN220673875U

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202321831332.5

    申请日:2023-07-12

    Abstract: 本申请涉及一种OTA测试系统,以提升高频数据的采集速率。该系统包括:第三支撑构件,被配置为竖立的圆环形,具有沿其轴向相背设置的第一侧和第二侧;多个低频探头,沿圆周方向依次间隔地排列在第三支撑构件;第一支撑构件,设置于第一侧,包括从第三支撑构件的顶部呈圆弧形延伸至第一支撑构件的底部的第一圆弧形导轨;第二支撑构件,设置于第二侧,包括从第三支撑构件的顶部呈圆弧形延伸至第一支撑构件的底部的第二圆弧形导轨;第一高频探头,可移动地连接到第一圆弧形导轨;第二高频探头,可移动地连接到第二圆弧形导轨;受测物放置台,设置在第一支撑构件、第一圆弧形导轨和第一圆弧形导轨中每一者的圆心区域。

    一种用于OTA测试的双轴一体转台

    公开(公告)号:CN212111602U

    公开(公告)日:2020-12-08

    申请号:CN202020552547.3

    申请日:2020-04-15

    Inventor: 凡泽兴 赵鲁豫

    Abstract: 本实用新型公开了一种用于OTA测试的双轴一体转台,包括钣金固定座(1)、水平面转台(2)、垂直面转台(3)、测试双极化探头(4)和待测物(5)。水平面转台(2)和垂直面转台(3)固定在钣金固定座(1)上,测试双极化探头(4)固定在垂直面转台(2)上,待测物(5)固定在水平面转台(2)上,水平面转台(2)带动待测物(5)转动,在转动过程中待测物(5)的中心位置和测试双极化探头(4)的中心位置距离不变,垂直面转台(3)带动测试双极化探头(4)转动,在转动过程中测试双极化探头(4)的中心位置和待测物(5)的中心位置距离也不变,水平面转台旋转360°,垂直面转台旋转180°就可对待测物进行3D球面数据采集的测试。

    OTA测试设备
    8.
    实用新型

    公开(公告)号:CN220528172U

    公开(公告)日:2024-02-23

    申请号:CN202321833419.6

    申请日:2023-07-12

    Abstract: 本申请涉及一种OTA测试设备,其能够容易地采集被测物在多个角度的高频辐射数据和低频辐射数据,包括被测物正顶侧的高频辐射数据和低频辐射数据。OTA测试设备包括:支撑环,被配置为竖立的圆环形;多个低频探头,沿圆周方向依次间隔地排列在支撑环的内周面处;被测物放置台,设置在支撑环的圆心区域;第一轨道,被配置为从上端部延伸至下端部的竖立的圆弧形,且位于支撑环的轴向一侧,上端部与所述支撑环的顶部邻接;活动座,可移动地连接到所述第一轨道,且具有第二轨道,第二轨道形成为与第一轨道平行的圆弧形;高频探头,可移动地连接到第二轨道;当活动座移动至第一轨道的上端部、且高频探头移动至第二轨道的规定位置时,高频探头处于被测物放置台的正上方。

    OTA测试装置
    9.
    实用新型

    公开(公告)号:CN220673874U

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202321831203.6

    申请日:2023-07-12

    Abstract: 本申请涉及一种OTA测试装置,其能够容易地采集被测物在多个角度的高频辐射数据和低频辐射数据,尤其是受测物正顶侧的高频辐射数据和低频辐射数据。OTA测试装置包括:多个低频探头,沿圆周方向依次间隔地排列在第一圆周上;高频探头,能够沿一圆弧路径移动,可被选择性地定位在圆弧路径上的多个位置中的任一个位置;受测物承载台,能够在第一位置和第二位置之间移动,且可被选择性地定位在所述第一位置或所述第二位置,处在第一位置的受测物承载台位于第一圆周的圆心区域,处在第二位置的受测物承载台位于圆弧路径的圆心区域;在受测物承载台位于第二位置的情况下,高频探头能够沿圆弧路径移动至并定位在受测物承载台的正上方的位置。

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