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公开(公告)号:CN119827009A
公开(公告)日:2025-04-15
申请号:CN202510243132.5
申请日:2025-03-03
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明公开了一种温度传感器类器件批量测试方法及装置,旨在于解决现有技术无法同时兼顾精度、效率和兼容性几个方面的不足。该方法将待测器件置于高低温箱中,设置温度点并保持一定时间,采用标准器件比测法对标定温度进行校准,通过ATE设备进行多工位测试,得到每个待测器件在不同温度点下的测试数据,并根据测试结果对器件进行筛选。装置包括高低温箱、测试适配器和ATE设备。本发明通过多工位测试和标准器件比测法,显著提高了测试效率和精确度,能够适应不同类型、不同规格的温度传感器器件,降低了测试成本,满足大规模生产中对温度传感器性能检测的需求。
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公开(公告)号:CN117743050A
公开(公告)日:2024-03-22
申请号:CN202311725878.7
申请日:2023-12-14
Applicant: 西安微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种集成电路电阻网络调值装置,包括基板和多个调值板卡;基板上设置有调值连接端口、多个调值板卡插槽、一个调值控制单元和一个调值信号连接器。调值连接端口、调值板卡插槽和调值板卡的数量均一致,每个调值连接端口对应连接一个调值板卡插槽,每个调值板卡插槽对应连接一个调值板卡,每个调值板卡上设置有多个调值单元,每个调值单元相互独立。调值板卡用金手指连接到调值板卡插槽,把调值板卡上的调值单元与调值连接端口相接。调值信号连接器用于接入调值资源和调值控制信号,调值控制单元对调值信号进行处理,并分配给各调值板卡上的各调值单元。本申请将调值装置小型化,有效缩短了调值连线长度,降低调值连线对测试的影响。
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