公开(公告)号：CN116227403A

公开(公告)日：2023-06-06

申请号：CN202310134979.0

申请日：2023-02-17

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 陈阳 ,  吴生龙 ,  黄桂龙 ,  刘曦 ,  余国强

IPC: G06F30/38 ,  G06F30/34 ,  H03M1/12

Abstract: 本发明公开了一种立体集成化可扩展的AD采集模块和方法，模块包括FPGA、电平转换电路和AD芯片；所述AD芯片的输入控制端连接电平转换电路的输出端，所述电平转换电路的输入端连接FPGA的输出端；所述FPGA设置在底层基板的正面，底层基板的背面设置对外管脚；电平转换电路和AD芯片形成裸芯；所述裸芯设置在顶层基板上，裸片固定在顶层基板的两侧面，立体堆叠集成后，通过侧面刻线与底层基板相连，将对外信号引至底层基板引出。组装工艺上采用3D组合的方式，接口设计更加通用化，满足小型化设计和接口通用化的要求。

公开(公告)号：CN113157501B

公开(公告)日：2023-05-09

申请号：CN202110218253.6

申请日：2021-02-26

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 张庆学 ,  毛意诚 ,  匡乃亮 ,  郭雁蓉 ,  赵超 ,  陈阳 ,  刘曦 ,  余国强

IPC: G06F11/22 ,  G06F11/263 ,  G06F11/273 ,  G06F1/24

Abstract: 本发明公开了一种基于ATE测试机的微系统模块AC参数测试方法，利用测试转接板将待测微系统模块与ATE测试机连接，ATE测试机根据上电顺序控制程序和复位触发程序对待测微系统模块进行上电和复位，并将程序存储器中的功能测试程序加载到待测微系统模块内处理器对应的数据存储器中，并利用测试接口输入激励程序给待测微系统模块提供激励，待测微系统模块内处理器根据激励执行相应的功能测试程序，并将执行结果发送给测试接口输出结果监测程序，测试结果判定程序根据测试接口输出结果监测程序的监测结果判定微系统模块AC参数是否满足要求。本发明能够实现微系统模块AC参数的快速精准测试，提高了微系统模块AC参数测试和筛选效率。

公开(公告)号：CN111679933B

公开(公告)日：2023-03-31

申请号：CN202010507239.3

申请日：2020-06-05

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 路海全 ,  全勇涛 ,  刘曙蓉 ,  陈阳 ,  王鹏

IPC: G06F11/10 ,  G06F3/06 ,  G11C29/42

Abstract: 本发明公开了一种外扩Flash程序存储区扩展EDAC校验电路及读写方法，处理器接口与外扩FLASH中间增加总线驱动器、与门、或门以及非门用于实现对外扩FLASH2的读写操作；数据线D[0:7]和校验位PD[0:7]通过总线驱动器与FLASH的数据线连接，为防止数据线冲突，通过GPIO5、GPIO6以及与门、或门和非门组合逻辑来控制总线驱动器的OE使能端来选通；可应用于空间计算机小型化SIP模块内部FLASH外扩EDAC功能，该功能可有效提高FLASH作为程序存储区空间抗单粒子翻转能力，在满足整机功能性能的前提下，大幅度提高FLASH作为程序存储区在空间环境的抗单粒子翻转能力，并提高整机的可靠性，而且满足空间计算机设计标准化、小型化、国产化的需求。

公开(公告)号：CN113157501A

公开(公告)日：2021-07-23

申请号：CN202110218253.6

申请日：2021-02-26

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 张庆学 ,  毛意诚 ,  匡乃亮 ,  郭雁蓉 ,  赵超 ,  陈阳 ,  刘曦 ,  余国强

IPC: G06F11/22 ,  G06F11/263 ,  G06F11/273 ,  G06F1/24

Abstract: 本发明公开了一种基于ATE测试机的微系统模块AC参数测试方法，利用测试转接板将待测微系统模块与ATE测试机连接，ATE测试机根据上电顺序控制程序和复位触发程序对待测微系统模块进行上电和复位，并将程序存储器中的功能测试程序加载到待测微系统模块内处理器对应的数据存储器中，并利用测试接口输入激励程序给待测微系统模块提供激励，待测微系统模块内处理器根据激励执行相应的功能测试程序，并将执行结果发送给测试接口输出结果监测程序，测试结果判定程序根据测试接口输出结果监测程序的监测结果判定微系统模块AC参数是否满足要求。本发明能够实现微系统模块AC参数的快速精准测试，提高了微系统模块AC参数测试和筛选效率。

公开(公告)号：CN111679933A

公开(公告)日：2020-09-18

申请号：CN202010507239.3

申请日：2020-06-05

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 路海全 ,  全勇涛 ,  刘曙蓉 ,  陈阳 ,  王鹏

IPC: G06F11/10 ,  G06F3/06 ,  G11C29/42

Abstract: 本发明公开了一种外扩Flash程序存储区扩展EDAC校验电路及读写方法，处理器接口与外扩FLASH中间增加总线驱动器、与门、或门以及非门用于实现对外扩FLASH2的读写操作；数据线D[0:7]和校验位PD[0:7]通过总线驱动器与FLASH的数据线连接，为防止数据线冲突，通过GPIO5、GPIO6以及与门、或门和非门组合逻辑来控制总线驱动器的OE使能端来选通；可应用于空间计算机小型化SIP模块内部FLASH外扩EDAC功能，该功能可有效提高FLASH作为程序存储区空间抗单粒子翻转能力，在满足整机功能性能的前提下，大幅度提高FLASH作为程序存储区在空间环境的抗单粒子翻转能力，并提高整机的可靠性，而且满足空间计算机设计标准化、小型化、国产化的需求。