一种PCIe系统中串行热插拔控制器的实现方法

    公开(公告)号:CN118860937A

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN202411007279.6

    申请日:2024-07-25

    Abstract: 本发明公开了一种PCIe系统中串行热插拔控制器的实现方法,分为三个过程,分别为:配置过程、板卡插入过程、板卡移除过程,包括串行热插拔寄存器模块、寄存器控制模块、解析转换模块、I2C控制器模块、信号分析模块、板卡插入模块、板卡拔出模块;配置过程由串行热插拔专用寄存器模块、寄存器控制模块、解析转换模块、I2C控制器模块和信号分析模块实现;板卡插入模块和板卡拔出模块分别实现PCIe板卡的插入和移除。本发明解决了热插拔控制器个数单一、实现困难、应用不灵活的问题,大大节约了板卡热插入和热拔出的时间。

    一种抗干扰高可靠异步主机访问启动电路及其工作方法

    公开(公告)号:CN115185868A

    公开(公告)日:2022-10-14

    申请号:CN202210912301.6

    申请日:2022-07-29

    Abstract: 本发明公开了一种抗干扰高可靠异步主机访问启动电路及其工作方法,该电路由三级D触发器和一个二输入与门连接。该结构使得三级D触发器均采用主机接口电路的全局时钟作为工作时钟,不存在主机访问选通信号上的抖动或毛刺上的变化造成触发器的时钟沿误翻转的现象;当主机访问选通信号上出现抖动或者干扰毛刺后,电路可以快速恢复到初始态并继续正常完成主机访问的识别和启动,具有抗干扰能力强、可靠性高的特点。

    一种支持PCIe总线排序规则的处理方法、系统、终端及介质

    公开(公告)号:CN116257476A

    公开(公告)日:2023-06-13

    申请号:CN202310146257.7

    申请日:2023-02-21

    Abstract: 本发明涉及集成电路设计领域,公开了一种支持PCIe总线排序规则的处理方法、系统、终端及介质,通过某些条件下一个接收的事务层包的序列号维持不变、存储事务层包的缓存为空时接收的下一个事务层包的序列号回卷为最小值等方式使得多个事务层包可以使用同一个序列号,序列号在未达到最大值时及时回卷到了初始最小值,配合发明的事务层包读取方法在组成序列号的位数不变的情况下,在保证了缓存中事务层包读取调度遵循PCIe排序规则的前提下极大的延缓了序列号递增到最大值的时间,通过暂停事务层包的缓存写入和序列号生成直到缓存为空等方式解决了序列号设置为最大值后序列号回卷对缓存中事务层包读取调度时PCIe排序规则的破坏。

    一种PCIe交换电路直通模式控制方法

    公开(公告)号:CN115865846A

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN202211274566.4

    申请日:2022-10-18

    Abstract: 本发明公开了一种PCIe交换电路直通模式控制方法,属于集成电路设计领域。本发明在PCIe交换电路内部为每个端口设置入端交换控制寄存器和出端交换控制寄存器,分段控制输入端口和输出端口的交换方式,使得用户可以对从PCIe交换电路不同端口进入或输出的事务包进行差异化交换控制,提高了PCIe交换电路应用的灵活性从而提升了系统的整体交换性能。本发明通过对不同输出端口出端交换控制寄存器的不同设置,使从同一输入端口进入的交换事务面向不同输出端口采用不同的交换方式;另外,还可以通过对不同输入端口入端交换控制寄存器的不同设置使从不同端口输入、同一端口输出的交换事务采用不同的交换方式。

    一种全局异步站内同步的PCIe交换电路和方法

    公开(公告)号:CN114866497A

    公开(公告)日:2022-08-05

    申请号:CN202210674910.2

    申请日:2022-06-15

    Abstract: 本发明提供一种全局异步站内同步的PCIe交换电路和方法,该系统包括若干个站模块,所有的站模块共同连接有访问仲裁模块;所述访问仲裁模块通过EERROM控制器和外部的EERROM交互,所述访问仲裁模块通过IIC总线控制器与外部的IIC主机交互;所述站模块通过PCIe链路连接有上游端口;该方法将电路划分为多个站模块,电路总体结构简单、各个模块的功能划分合理,有利于分模块高效的并行开展逻辑设计;同一个站中的所有端口工作于同一时钟域,不同的站可工作于不同的时钟域,电路的时钟域分隔清晰简洁,可以方便的进行跨时钟域的设计和检查,大大降低常见的跨时钟域设计风险,确保电路的可靠性。

    一种总线控制器电路高温动态老炼装置及方法

    公开(公告)号:CN109870642B

    公开(公告)日:2021-05-25

    申请号:CN201910194619.3

    申请日:2019-03-14

    Abstract: 本发明公开了一种总线控制器电路高温动态老炼装置及方法,包括老炼控制单元、老炼工位单元和总线网络;老炼工位单元包括若干个老炼工位,每个老炼工位上均设置老炼工位配置管脚和老炼工位总线接口管脚;老炼工位配置管脚与老炼控制单元连接,老炼工位总线接口管脚与总线网络连接;待老炼电路配置管脚和待老炼电路总线接口管脚分别与老炼工位配置管脚和老炼工位总线接口管脚连接。通过老炼控制单元控制待老炼电路的接收和发送状态,利用总线网络实现不同待老炼电路之间的数据信息交互;有效地解决总线控制器类集成电路的高温动态老炼问题,降低了资源需求量,有效降低设计风险和复杂度,方便进行故障分析且具有灵活性。

    一种支持多模式交换的PCIe交换电路交换方法和装置

    公开(公告)号:CN115633003A

    公开(公告)日:2023-01-20

    申请号:CN202211277126.4

    申请日:2022-10-18

    Abstract: 本发明提供一种支持多模式交换的PCIe交换电路交换方法和装置,对当前接收的交换事务的入端口和出端口的通信速率进行比较,并解析该交换事务的事务类型和包含的数据载荷长度;选择存储转发交换模式,并以存储转发模式交换到出端口;对于从入端口进入的需要交换到出端口的带数据载荷且数据载荷长度大于一个双字的完成事务和存储器写请求包依据入端口和出端口的通信速率比较结果,将所带数据载荷的长度选择直通交换或者存储转发模式进行交换;基于PCIe交换电路将当前交换的事务写入缓存,事务写入缓存的同时将选择的当前事务交换模式信息存储在缓存中;按读取的事务交换信息确定当前事务的交换模式,本申请由硬件自动且动态的进行当前交换事务的交换模式选择,提高了装置的交换性能。

    一种PCIe交换电路的高温动态老炼系统和方法

    公开(公告)号:CN113985248A

    公开(公告)日:2022-01-28

    申请号:CN202111250961.4

    申请日:2021-10-26

    Abstract: 本发明公开了一种PCIe交换电路的高温动态老炼系统和方法,属于集成电路设计及测试领域。该系统功能上最大化的覆盖了电路的物理层功能、控制器功能和事务路由交换等功能,使得电路的每个端口在老炼期间均进行了事务的发送和接收,按照PCIe交换电路正常的工作频率和总线接口速率进行了动态老炼;本发明无需为每只老炼电路外接PCIe根复合体设备和众多的PCIe端点设备就可以按照电路的工作频率和总线接口速率进行老炼,极大的节省了老炼板上元器件的使用成本;同时,本发明因为老炼板上外围PCIe设备的减少使老炼单板上实现了更多的工位,在同一老炼高温箱中可以老炼更多电路,节省了试验成本。

    一种基于替代链路宽度的PCIe接口电路验证装置及方法

    公开(公告)号:CN115270673A

    公开(公告)日:2022-11-01

    申请号:CN202210880120.X

    申请日:2022-07-25

    Abstract: 本发明公开了一种基于替代链路宽度的PCIe接口电路验证装置及方法,通过在验证FPGA的控制器和PHY之间的PIPE接口之间增加通路转换装置,高效方便的实现了多通路PCIe接口电路的硬件验证,有效解决了现有技术在多通路和多端口PCIe接口电路硬件验证中遇到的问题,本发明提供的一种基于替代链路宽度的PCIe接口电路硬件验证方法以极小的资源极大的降低了验证FPGA中多通路PCIe接口电路的控制器和应用逻辑的工作频率,可轻松实现PCIe接口电路的验证。

    一种PCIe总线接口电路的自动测试方法和装置

    公开(公告)号:CN114578211A

    公开(公告)日:2022-06-03

    申请号:CN202210197750.7

    申请日:2022-03-01

    Abstract: 本发明公开了一种PCIe总线接口电路的自动测试方法和装置,通过在自动测试设备的载板上集成高速继电器、测试用PCIe根复合体或/和端点设备,利用机台控制信号控制高速继电器将被测电路的PCIe收发差分信号和机台高速测试通道连接,自动测试设备按照被测电路的测试激励和响应测试电路的无需PCIe接口工作即可测试的相关功能和电参数,通过机台控制信号控制所述继电器将被测电路的PCIe收发差分信号和所述测试用PCIe根复合体或端点设备连接,实现自动测试,大大提高了自动测试的效率,减少了电路生产测试的人力成本、设备成本和测试时间,本发明可实现电路生产环节中多轮自动测试,有效降低了电路在测试夹具中的多次插拔产生外观或外形受损等质量隐患的几率。

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