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公开(公告)号：CN113899952B
公开(公告)日：2023-07-28
申请号：CN202111249413.X
申请日：2021-10-26
Applicant: 西安微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种自动化阻抗测试系统及方法，包括主机、阻抗测试仪、补偿校正电路和开关矩阵；开关矩阵设置在长线测试电缆上，长线测试电缆连接阻抗测试仪的输入端，阻抗测试仪的输出端连接主机，阻抗测试仪用于对选通的通道进行阻抗自动测试，补偿校准电路用于消除长线测试电缆和开关矩阵引入的阻抗；补偿校准电路的输出端连接主机的输入端，主机用于将补偿校正电路得到的数据对阻抗测试电路测量的数据进行修正，将修正后数据与预设的阻抗判据进行对比，并对数据进行保存。本发明解决了现有星载产品静态阻抗测试精度差、测试效率低的问题，节约了测试时间，缩减了研制周期，降低了成本，提高了测试精度，增强了产品的安全性和可靠性。
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公开(公告)号：CN113899952A
公开(公告)日：2022-01-07
申请号：CN202111249413.X
申请日：2021-10-26
Applicant: 西安微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种自动化阻抗测试系统及方法，包括主机、阻抗测试仪、补偿校正电路和开关矩阵；开关矩阵设置在长线测试电缆上，长线测试电缆连接阻抗测试仪的输入端，阻抗测试仪的输出端连接主机，阻抗测试仪用于对选通的通道进行阻抗自动测试，补偿校准电路用于消除长线测试电缆和开关矩阵引入的阻抗；补偿校准电路的输出端连接主机的输入端，主机用于将补偿校正电路得到的数据对阻抗测试电路测量的数据进行修正，将修正后数据与预设的阻抗判据进行对比，并对数据进行保存。本发明解决了现有星载产品静态阻抗测试精度差、测试效率低的问题，节约了测试时间，缩减了研制周期，降低了成本，提高了测试精度，增强了产品的安全性和可靠性。
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