-
公开(公告)号：CN119902936A
公开(公告)日：2025-04-29
申请号：CN202411830296.X
申请日：2024-12-12
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开了一种基于POE的微系统模块通用测试系统及方法，旨在克服现有技术进行微系统测试时测试完整性不足的技术问题。该测试系统包括上位机、POE交换机和测试硬件。上位机用于发送测试命令与接收测试数据；POE交换机连接上位机和测试硬件，实现数据传输并可为系统供电；测试硬件由核心板TBC和扩展板TBE组成，接收测试指令并对待测设备施加激励。该系统可在三温环境下工作。测试方法包括执行上位机命令、施加激励、获取响应数据并反馈至上位机，同样可在三温环境下进行。本发明通过独特的系统架构和测试方法，提升了测试方案的通用性，大幅降低了测试成本，增强了微系统产品在不同环境下的测试覆盖性和可靠性。
Search Results
1
records
(took 0.015 seconds)
筛选
AND
AND
过滤
NOT
NOT
Scan to Join
