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公开(公告)号:CN119902936A
公开(公告)日:2025-04-29
申请号:CN202411830296.X
申请日:2024-12-12
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开了一种基于POE的微系统模块通用测试系统及方法,旨在克服现有技术进行微系统测试时测试完整性不足的技术问题。该测试系统包括上位机、POE交换机和测试硬件。上位机用于发送测试命令与接收测试数据;POE交换机连接上位机和测试硬件,实现数据传输并可为系统供电;测试硬件由核心板TBC和扩展板TBE组成,接收测试指令并对待测设备施加激励。该系统可在三温环境下工作。测试方法包括执行上位机命令、施加激励、获取响应数据并反馈至上位机,同样可在三温环境下进行。本发明通过独特的系统架构和测试方法,提升了测试方案的通用性,大幅降低了测试成本,增强了微系统产品在不同环境下的测试覆盖性和可靠性。
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公开(公告)号:CN120048802A
公开(公告)日:2025-05-27
申请号:CN202510172592.3
申请日:2025-02-17
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: H01L23/31 , H01L23/48 , H01L23/522 , H01L23/538 , H10D80/30 , H05K1/18 , H05K1/11
Abstract: 本发明属于芯片封装技术领域,涉及一种基于三维堆叠封装的微系统隔离布局结构。本发明上层基板与下层基板通过垂直堆叠连接,显著减少了封装结构的总体尺寸,提高了空间利用率。上层基板与下层基板通过垂直堆叠连接,通过三维堆叠封装,显著减少了封装结构的总体尺寸,使得同等功能设备更加紧凑。通过合理布局现场可编程门阵列芯片、两片模数转换器芯片和两组隔离芯片,有利于减少信号的走线长度,进而有利于减少信号干扰。利用空焊盘隔离模拟信号焊盘和数字信号焊盘,有利于减少信号干扰,本发明在满足小型化需求的同时,显著减小了数字信号和模拟信号之间的干扰。
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