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公开(公告)号:CN114496939A
公开(公告)日:2022-05-13
申请号:CN202210082500.9
申请日:2022-01-24
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: H01L23/31 , H01L23/488 , H01L21/50 , H01L21/56 , H01L21/60
Abstract: 本发明公开了一种微模组塑封结构及其制造方法,微模组塑封结构包括芯片、倒装凸点、第一焊盘、第二焊盘、塑封材料、焊球和TSV结构体;第一焊盘位于TSV结构体的上表面,第二焊盘位于TSV结构体的下表面,芯片通过倒装凸点键合在第一焊盘上,在第二焊盘上植球形成焊球,塑封材料在TSV结构体上表面对芯片塑封成型。将芯片通过倒装凸点键合在第一焊盘上,在TSV结构体上表面上对芯片进行塑封成型,有效降低了在测试、拿持、转移和后续的加工中对芯片损坏的风险,同时利用传统塑封手段解决了微模组的塑封问题,降低了生产成本。
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公开(公告)号:CN113990815A
公开(公告)日:2022-01-28
申请号:CN202111267198.6
申请日:2021-10-28
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: H01L23/31 , H01L23/367 , H01L25/16 , H01L23/48 , H01L21/50 , H01L21/56 , H01L21/768
Abstract: 本发明提供一种硅基微模组塑封结构及其制备方法,能够兼顾优良电气性能和强韧的机械性能,充分发挥TSV硅转接基板布线密度高、同半导体芯片热匹配性好,多芯片集成密度高的优势,且成品率高,经济性好。包括TSV硅转接基板、至少一个倒装在TSV硅转接基板上表面的芯片或复合芯片、TSV硅转接基板上表面的无源元件、包封在除TSV硅转接基板下表面外其余五个表面的塑封体;其中,倒装在TSV硅转接基板上表面的芯片或复合芯片的背面裸露在塑封体外,多个芯片或复合芯片背面之间以及芯片或复合芯片背面与TSV硅转接基板上表面的塑封体表面均处于同一平面内,无源元件的表面低于TSV硅转接基板上表面的芯片或复合芯片背面。
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