公开(公告)号：CN107300666A

公开(公告)日：2017-10-27

申请号：CN201710453919.X

申请日：2017-06-15

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 李俊玲 ,  颜伟 ,  沈拉民 ,  刘才强

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明提供了一种SOC片上嵌入式IP硬核的测试访问隔离结构，有效降低了控制结构的复杂度，除去功能端口外，只需要具备移位使能SE(scan_enable)、测试模式(wtest_en)、测试时钟(test_clock)、扫描输入/输出(scan_in/scan_out)端口即可完成所有功能。根据不同内外测试环境，可灵活配置隔离扫描链数量；并且本结构具有与通用扫描结构相同的测试控制方法，可以完美的融入已有的扫描测试结构中，在实现嵌入式硬核IP测试隔离功能的同时，大大降低了集成难度，具有很强的可实现性和可操作性。

公开(公告)号：CN118606129A

公开(公告)日：2024-09-06

申请号：CN202410762767.1

申请日：2024-06-13

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 刘才强 ,  杨靓 ,  郑璐 ,  颜伟 ,  李俊玲 ,  缑昱萍 ,  邹斐 ,  李海松

IPC: G06F11/263 ,  G06F11/273 ,  G06F30/30 ,  G06F13/38 ,  H03M9/00

Abstract: 本发明公开了一种集成电路电子标识用自动化设计电路，本电路包括TAP控制器、可编程控制器和可编程器件，可编程器件用于存储集成电路的电子标识信息，通过TAP控制器生成并输出智能电子标识指令，再利用可编程控制器根据接收到的智能电子标识指令对可编程器件进行控制和访问，以擦除、编程或读取电子标识信息，通过读取可编程器件中的电子标识信息，能够实现集成电路的产品全周期追溯和分析；采用本电路能够将集成电路进行唯一化标记，从而对电路生命周期信息进行记录和分析，任何一个电路在后续任何一个环节出了故障，都可以通过电路唯一的电子ID标识，找到该电路在之前流程中的数据信息，有助于追查和分析定位故障原因，从而更快更好地解决问题。

公开(公告)号：CN107300666B

公开(公告)日：2020-10-30

申请号：CN201710453919.X

申请日：2017-06-15

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 李俊玲 ,  颜伟 ,  沈拉民 ,  刘才强

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明提供了一种SOC片上嵌入式IP硬核的测试访问隔离结构，有效降低了控制结构的复杂度，除去功能端口外，只需要具备移位使能SE(scan_enable)、测试模式(wtest_en)、测试时钟(test_clock)、扫描输入/输出(scan_in/scan_out)端口即可完成所有功能。根据不同内外测试环境，可灵活配置隔离扫描链数量；并且本结构具有与通用扫描结构相同的测试控制方法，可以完美的融入已有的扫描测试结构中，在实现嵌入式硬核IP测试隔离功能的同时，大大降低了集成难度，具有很强的可实现性和可操作性。

公开(公告)号：CN109298322A

公开(公告)日：2019-02-01

申请号：CN201811132567.9

申请日：2018-09-27

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 刘才强 ,  韦超 ,  沈拉民

IPC: G01R31/3185

Abstract: 本发明一种动态变链长扫描结构及其方法和边界扫描单元，实现了边界扫描的快速访问。边界扫描单元通过设置的串行输出多路选择器，利用对控制信号bsr_sel的不同配置，选择不同的输入作为串行输出SO，当不需要访问该边界扫描单元时，能够将串行输入SI直接从串行输出SO输出，从而节约了移位时间。动态变链长扫描结构，通过对组成链长的边界扫描单元进行控制，能够可以实现边界扫描可变链长，达到对电路的快速访问，提高了整体使用效率。动态变链长扫描方法，通过对控制信号bsr_sel的配置分别对每个边界扫描单元进行独立控制，从而实现对动态变链长扫描结构的链长控制，满足了不同的采集需求。