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公开(公告)号:CN117722973A
公开(公告)日:2024-03-19
申请号:CN202311789666.5
申请日:2023-12-23
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01B11/16 , G01B9/02015
Abstract: 本发明公开了一种动态相移干涉测量系统及其方法,包括第一消偏振分光棱镜,第一消偏振分光棱镜的一侧依次间隔设置有第一偏振片、准直透镜、针孔滤波器、第一衰减片和激光器,另一侧依次间隔设置有第三偏振片和物体,第一消偏振分光棱镜的上侧依次间隔设置有第二偏振片、第二衰减片和第一反射镜,第一消偏振分光棱镜的下侧依次间隔设置有成像透镜、第二消偏振分光棱镜、偏振光栅和第二反射镜,第二消偏振分光棱镜的一侧设置有相机;偏振光栅为液晶圆偏振光栅,液晶分子快轴取向沿x方向呈周期性连续渐变,整体具有λ/2相位延迟量。本发明在满足动态测量需求的同时,还能确保高精度的相位测量结果。
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公开(公告)号:CN116147518A
公开(公告)日:2023-05-23
申请号:CN202310003930.1
申请日:2023-01-03
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明公开了一种基于偏振复用的全场动态三维形变测量方法及系统,通过将物光及参考光的偏振态分别调整为圆偏振光及45°线偏振光,利用偏振CCD,实现被测物体发生三维变形前后散斑场及散斑干涉相移场的同步记录。其中由偏振CCD上偏振方向为0°和90°的像素记录的散斑干涉相移图用于恢复离面变形,偏振方向为135°的像素记录的散斑图用于进行DIC计算恢复面内变形。解决了DSPI与DIC结合进行三维形变动态测量的相关技术中,直接散斑图与干涉相移图无法同步记录以及动态测量需求不易满足的问题。
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