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发明公开
一种薄膜红外变温反射率测试用的变温附件及测试方法审中-公开

公开(公告)号：CN119881002A

公开(公告)日：2025-04-25

申请号：CN202510085829.4

申请日：2025-01-20

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 张祯 , 曹薛丰 , 刘佳 , 谭福春

IPC: G01N25/20 , G01N21/3563 , G01N21/55 , G01N21/01

Abstract: 本发明属于反射率光谱测量技术领域，公开了一种薄膜红外变温反射率测试用的变温附件及测试方法，所述变温附件为包括依次叠层设置的绝缘层、加热层、隔热层和金属夹具；其中，绝缘层内连接有电源线；所述隔热层和所述金属夹具均可拆卸安装于所述绝缘层上，以便于将待测薄膜样品安装于所述加热层与所述隔热层之间；所述隔热层和所述金属夹具的中部均开设有圆孔，以通过所述圆孔使安装的所述待测薄膜样品的部分上表面漏出形成待测薄膜样品的测试区域。本发明的变温附件能够用于Bruker VERTEX70型显微红外光谱仪，且能够结合镜面反射法能够实现对薄膜在25℃～200℃的变温红外反射率的微区测试。

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