公开(公告)号：CN107508580B

公开(公告)日：2020-07-21

申请号：CN201710603571.8

申请日：2017-07-23

Applicant: 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)

Inventor： 赵亚妮 ,  尹美良 ,  李典 ,  谭开洪 ,  徐舒 ,  赵子强 ,  盛保印 ,  杨玲玲

IPC: H03K3/353

Abstract: 本发明公开的一种检测集成电路模拟/数字信号上升沿的脉冲生成电路，旨在提供一种够有效检测模拟集成电路中模拟/数字信号上升沿的脉冲生成电路。本发明通过下述技术方案予以实现：晶体管MP1的源端、晶体管MP2的源端、晶体管MP3的源端均连接至电源电压端VDDA；晶体管MN1的源端、晶体管MN3的源端均连接至地电压端；晶体管MP1的栅极、晶体管MP3的栅极、晶体管MN1的栅极和晶体管MN3的栅极均连接至输入端；晶体管MP1的漏极、晶体管MN1的漏极、晶体管MP2的栅极和体管MN2的栅极均连接到的电容MNCAP上极板，电容MNCAP的下极板连接至低电压端；晶体管MP2的漏极、晶体管MP3的漏极和晶体管MN2的漏极相连接后作为脉宽生成电路的输出端。

公开(公告)号：CN107508580A

公开(公告)日：2017-12-22

申请号：CN201710603571.8

申请日：2017-07-23

Applicant: 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)

Inventor： 赵亚妮 ,  尹美良 ,  李典 ,  谭开洪 ,  徐舒 ,  赵子强 ,  盛保印 ,  杨玲玲

IPC: H03K3/353

Abstract: 本发明公开的一种检测集成电路模拟/数字信号上升沿的脉冲生成电路，旨在提供一种够有效检测模拟集成电路中模拟/数字信号上升沿的脉冲生成电路。本发明通过下述技术方案予以实现：晶体管MP1的源端、晶体管MP2的源端、晶体管MP3的源端均连接至电源电压端VDDA；晶体管MN1的源端、晶体管MN3的源端均连接至地电压端；晶体管MP1的栅极、晶体管MP3的栅极、晶体管MN1的栅极和晶体管MN3的栅极均连接至输入端；晶体管MP1的漏极、晶体管MN1的漏极、晶体管MP2的栅极和体管MN2的栅极均连接到的电容MNCAP上极板，电容MNCAP的下极板连接至低电压端；晶体管MP2的漏极、晶体管MP3的漏极和晶体管MN2的漏极相连接后作为脉宽生成电路的输出端。