一种基于二值化的EBSD图像处理和晶界提取方法

    公开(公告)号:CN119416581A

    公开(公告)日:2025-02-11

    申请号:CN202411573213.3

    申请日:2024-11-06

    Inventor: 张钊 周子舜 姜峰

    Abstract: 本发明公开了一种基于二值化的EBSD图像处理和晶界提取方法。该方法包括:获取目标文件,通过目标软件对目标文件中的初始晶粒图像进行数据分析,得到初始晶粒图像的晶粒尺寸、形貌结构和晶粒取向,其中,初始晶粒图像是通过EBSD进行拍摄的图像;对初始晶粒图像进行处理,得到目标晶粒图像,将目标晶粒图像中相邻两个晶粒区域的晶体取向角度差值,定义为晶粒取向差。本发明解决了现有技术中基于EBSD数据的晶体塑性有限元建模方法对金属材料抛磨处理制样过程要求很高,对晶界不连续处断点未进行处理,导致晶体塑性有限元仿真的计算效率和质量低的技术问题。

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