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实用新型
一种XRD测试设备用可控升温装置有权

公开(公告)号：CN205209862U

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201520481704.5

申请日：2015-07-03

Applicant: 苏州电器科学研究院股份有限公司

Inventor： 汤晓萍 , 胡醇 , 李杰 , 杨海 , 吉堂付 , 黄立国 , 谷世亮

IPC: G01N1/44 , G01N23/20

Abstract: 本实用新型公开了一种XRD测试设备用可控升温装置，由金属桶体、隔热内衬、样品室、热电偶、加热线圈、陶瓷套管、导线、控温仪、粉末样品槽底座、粉末样品槽、块体样品台组成，金属桶体与样品室之间安装一层隔热内衬，加热线圈沿隔热内衬侧壁安装，热电偶粘贴在样品室底部，连接加热线圈的导线通过陶瓷套管引出，其温度通过热电偶和外接的控温仪测量、控制，样品室中可放置与其配套的粉末样品槽底座、粉末样品槽和块体样品台。

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