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公开(公告)号：CN110068294B
公开(公告)日：2020-09-15
申请号：CN201910292840.2
申请日：2019-04-15
Applicant: 苏州电器科学研究院股份有限公司
Abstract: 本发明公开绕线式无感电阻器检测装置及检测方法，该检测装置包括：检测平台；载具，载具上设有多个载具槽，载具槽用于对待检测电阻器进行承载；输送机构，用于对载具进行输送；检测机构，设置于检测平台上，检测机构包括：检测支架；定位组件，用于对载具进行定位；压紧组件，用于对待检测电阻器进行固定；测量组件，用于对待检测电阻器绝缘筒的矩形横槽的深度、矩形横槽的宽度、相邻矩形横槽的槽间距以及矩形竖槽的深度进行测量。本发明可以有效对电阻器绝缘筒的矩形横槽的深度、矩形横槽的宽度、相邻矩形横槽的槽间距以及矩形竖槽的深度进行测量，若有问题可以及时发现并解决，大大提高了绕线式无感电阻器成品的良率，降低成品报废率。
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公开(公告)号：CN110068294A
公开(公告)日：2019-07-30
申请号：CN201910292840.2
申请日：2019-04-15
Applicant: 苏州电器科学研究院股份有限公司
Abstract: 本发明公开绕线式无感电阻器检测装置及检测方法，该检测装置包括：检测平台；载具，载具上设有多个载具槽，载具槽用于对待检测电阻器进行承载；输送机构，用于对载具进行输送；检测机构，设置于检测平台上，检测机构包括：检测支架；定位组件，用于对载具进行定位；压紧组件，用于对待检测电阻器进行固定；测量组件，用于对待检测电阻器绝缘筒的矩形横槽的深度、矩形横槽的宽度、相邻矩形横槽的槽间距以及矩形竖槽的深度进行测量。本发明可以有效对电阻器绝缘筒的矩形横槽的深度、矩形横槽的宽度、相邻矩形横槽的槽间距以及矩形竖槽的深度进行测量，若有问题可以及时发现并解决，大大提高了绕线式无感电阻器成品的良率，降低成品报废率。
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公开(公告)号：CN109188161A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201811315723.5
申请日：2018-11-06
Applicant: 苏州电器科学研究院股份有限公司
Abstract: 本发明公开一种电容器检测设备及其检测方法，电容器检测设备，包括：载具，在载具上设有多个卡孔，卡孔用于对待检测电容器进行承载；传输装置，传输装置用于对载具进行传输；图像采集组件，包括设置于传输装置上方的上图像采集组件和设置于传输装置下方的下图像采集组件，上图像采集组件和下图像采集组件用于对待检测电容器的外表面进行缺陷检测；性能检测装置，包括：性能检测电路板以及用于带动性能检测电路板升降的升降组件，性能检测装置用于对待检测电容器的电学性能进行检测。本发明结构简单，操作便捷，可以快速有效的对电容器的电学性能以及电容器的表面进行检测，降低人工干预，减少劳动力，提高检测精度和检测速度。
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公开(公告)号：CN112259536A
公开(公告)日：2021-01-22
申请号：CN201910693631.9
申请日：2019-07-21
Applicant: 苏州电器科学研究院股份有限公司
IPC: H01L27/092 , H01L21/8238
Abstract: 本发明提供一种抑制厚外延层半导体器件寄生BJT的方法及结构，其特征在于，包括以下步骤：提供半导体衬底，并在所述半导体衬底上形成外延层；在所述外延层上形成半导体器件，所述半导体器件包括：源区、漏区、栅极堆叠；在所述半导体器件周围形成与所述半导体器件不相连的导电层，用于减小基区电阻。相应地，本发明还提供一种应用本方法制造的半导体结构。采用本发明的方法以及半导体结构可以有效地抽取外延层中的非平衡载流子，大大减少寄生BJT的基区电阻，有效地抑制厚外延器件中的寄生BJT效应或者闩锁效应，从而减少泄漏电流、降低噪声、减小误开启概率，提高半导体器件的整体性能与可靠性。
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公开(公告)号：CN109188161B
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN201811315723.5
申请日：2018-11-06
Applicant: 苏州电器科学研究院股份有限公司
Abstract: 本发明公开一种电容器检测设备及其检测方法，电容器检测设备，包括：载具，在载具上设有多个卡孔，卡孔用于对待检测电容器进行承载；传输装置，传输装置用于对载具进行传输；图像采集组件，包括设置于传输装置上方的上图像采集组件和设置于传输装置下方的下图像采集组件，上图像采集组件和下图像采集组件用于对待检测电容器的外表面进行缺陷检测；性能检测装置，包括：性能检测电路板以及用于带动性能检测电路板升降的升降组件，性能检测装置用于对待检测电容器的电学性能进行检测。本发明结构简单，操作便捷，可以快速有效的对电容器的电学性能以及电容器的表面进行检测，降低人工干预，减少劳动力，提高检测精度和检测速度。
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