干涉光刻系统、打印装置和干涉光刻方法

    公开(公告)号:CN110119071B

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN201810117030.9

    申请日:2018-02-06

    Abstract: 一种干涉光刻系统,包括位相元件、第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜和锥透镜组,位相元件、第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜沿着光轴传播方向依次设置,第一透镜与第二透镜形成一组4F成像系统,第三透镜与第四透镜形成另一组4F成像系统,锥透镜组沿着光轴传播方向可移动地设置于第三透镜与第四透镜之间。本发明的干涉光刻系统结构简单,制作成本低,能够实现多角度、变周期干涉光刻。本发明还涉及一种打印装置和干涉光刻方法。

    分束器件、多光束干涉光路系统

    公开(公告)号:CN103268018A

    公开(公告)日:2013-08-28

    申请号:CN201310234223.X

    申请日:2013-06-13

    Abstract: 一种分束器件及多光束干涉光路系统,该分束器件包括挡光母板,位于该挡光母板上的多个圆孔,以及位于该多个圆孔中的多个分束透镜,通过该多个分束透镜实现多光束的分束,具有原理简单,分束效果可调的优点,并且产生的分束光路不需要采用多个支路进行调整,使得本发明的多光束干涉光路系统的总体结构简单并且紧凑,为多光束干涉曝光带来的新的应用前景。

    基片的预对准方法
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107908086B

    公开(公告)日:2021-01-22

    申请号:CN201711122043.7

    申请日:2017-11-14

    Abstract: 本发明涉及一种基片的预对准方法,该基片的预对准方法通过在基片上投影一幅特征图像和测距图像来确定边缘上边缘点的坐标,并根据边缘点坐标来计算基片的倾斜角度和基片中心坐标,最后通过移动工件台来使基片中心坐标和成像中心坐标对准,实现快速高效高精度的预对准工作。与现有技术相比该基片的预对准方法有着无需增加现有直写设备硬件成本、步骤简单、预对准精度高的优势。

    一种并行激光直写系统及光刻方法

    公开(公告)号:CN103777474B

    公开(公告)日:2016-03-23

    申请号:CN201410076822.8

    申请日:2014-03-04

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 一种并行激光直写系统及光刻方法,通过设置两个或多个图形发生器,将不同的图形发生器按不同的角度放置,使得每个角度的斜线都能通过对应图形发生器中的水平或垂直直线像素进行显示,从而消除了原有的斜线上的锯齿现象,并保证了直线和斜线之间的线宽相等,提高了图形的线宽均匀性,使得光刻工艺的精度和品质得到改善。

    一种并行激光直写系统及光刻方法

    公开(公告)号:CN103777474A

    公开(公告)日:2014-05-07

    申请号:CN201410076822.8

    申请日:2014-03-04

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 一种并行激光直写系统及光刻方法,通过设置两个或多个图形发生器,将不同的图形发生器按不同的角度放置,使得每个角度的斜线都能通过对应图形发生器中的水平或垂直直线像素进行显示,从而消除了原有的斜线上的锯齿现象,并保证了直线和斜线之间的线宽相等,提高了图形的线宽均匀性,使得光刻工艺的精度和品质得到改善。

    干涉光刻系统、打印装置和干涉光刻方法

    公开(公告)号:CN110119071A

    公开(公告)日:2019-08-13

    申请号:CN201810117030.9

    申请日:2018-02-06

    Abstract: 一种干涉光刻系统,包括位相元件、第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜和锥透镜组,位相元件、第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜沿着光轴传播方向依次设置,第一透镜与第二透镜形成一组4F成像系统,第三透镜与第四透镜形成另一组4F成像系统,锥透镜组沿着光轴传播方向可移动地设置于第三透镜与第四透镜之间。本发明的干涉光刻系统结构简单,制作成本低,能够实现多角度、变周期干涉光刻。本发明还涉及一种打印装置和干涉光刻方法。

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