用于表面形貌测量的高精度干涉型双位相光栅位移传感器

    公开(公告)号:CN107421464B

    公开(公告)日:2019-08-06

    申请号:CN201710609100.8

    申请日:2017-07-25

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本发明公开了一种用于表面形貌测量的高精度干涉型双位相光栅位移传感器,它包括激光器、反射型柱面全息位相光栅、对称设置的两个平面反射镜、线密度为反射型柱面全息位相光栅线密度的两倍的参考平面光栅、对称设置的两个光电探测器、分别与两个光电探测器相连接的两个信号处理装置、一端与反射型柱面全息位相光栅相连接的测量杠杆、与测量杠杆的另一端相连接且与待测工件的表面相接触的触针;反射型柱面全息位相光栅并产生衍射角为θ的±1级衍射光,经过两个平面反射镜反射后入射至参考平面光栅上的同一光栅区域并分别在±θ角方向产生两组不同级次的衍射光的干涉条纹,分别由两个光电探测器接收并转换为电信号发送至信号处理装置进行处理。

    用于表面形貌测量的高精度干涉型双位相光栅位移传感器

    公开(公告)号:CN107421464A

    公开(公告)日:2017-12-01

    申请号:CN201710609100.8

    申请日:2017-07-25

    Applicant: 苏州大学

    CPC classification number: G01B11/2441 G01B11/02

    Abstract: 本发明公开了一种用于表面形貌测量的高精度干涉型双位相光栅位移传感器,它包括激光器、反射型柱面全息位相光栅、对称设置的两个平面反射镜、线密度为反射型柱面全息位相光栅线密度的两倍的参考平面光栅、对称设置的两个光电探测器、分别与两个光电探测器相连接的两个信号处理装置、一端与反射型柱面全息位相光栅相连接的测量杠杆、与测量杠杆的另一端相连接且与待测工件的表面相接触的触针;反射型柱面全息位相光栅并产生衍射角为θ的±1级衍射光,经过两个平面反射镜反射后入射至参考平面光栅上的同一光栅区域并分别在±θ角方向产生两组不同级次的衍射光的干涉条纹,分别由两个光电探测器接收并转换为电信号发送至信号处理装置进行处理。

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