一种多光束同轴检测与调整方法

    公开(公告)号:CN104535296B

    公开(公告)日:2017-04-05

    申请号:CN201410727655.9

    申请日:2014-12-03

    Inventor: 杨皓旻 张运海

    Abstract: 本发明公开了一种多光束同轴度的调整方法,步骤1)通过在多个激光光源的光路上设置若干个反射镜或分束器,使得所述多个激光光源发出的光合并为一束肉眼无法区分开的光线;步骤2)选取一个能够反射激光的颗粒物,该颗粒物中每个颗粒的粒径小于所述的一束肉眼无法区分开的光线的光斑直径;步骤3)利用激光扫描共聚焦显微镜中自带的成像装置,将所述的一束肉眼无法区分开的光线对所述颗粒物进行扫描成像;步骤4)若得到的图像含有重影,则判定所述的一束肉眼无法区分开的光线不是一束同轴的光线,调节所述反射镜或分束器,回到步骤3);若得到的图像没有重影,则判定所述的一束肉眼无法区分开的光线是一束同轴的光线,调整结束。

    一种环形阵列LED激发装置

    公开(公告)号:CN104459970B

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201410766736.X

    申请日:2014-12-12

    Abstract: 本发明公开了一种环形阵列LED激发装置,包括:LED照明元,所述LED照明元设置在圆形载物环上;狭缝机构,其为圆环形结构,并且在圆环中间设置一条狭缝,所述狭缝机构设置在所述载物环的内侧;柱面镜,其也为圆环形结构,所述柱面镜设置在所述狭缝机构的内侧;其中,所述载物环、狭缝机构和柱面镜设置在外壳内,所述外壳的上端盖连接至所述显微镜的物镜上。本发明能够对样品全方位成像,有效消除了样品所成图像上的阴影,提高成像的效果,且成本更低,结构更加紧凑小巧,同时采用多色LED照明元,成像效果更佳。

    一种多光束同轴检测与调整方法

    公开(公告)号:CN104535296A

    公开(公告)日:2015-04-22

    申请号:CN201410727655.9

    申请日:2014-12-03

    Inventor: 杨皓旻 张运海

    Abstract: 本发明公开了一种多光束同轴度的调整方法,步骤1)通过在多个激光光源的光路上设置若干个反射镜或分束器,使得所述多个激光光源发出的光合并为一束肉眼无法区分开的光线;步骤2)选取一个能够反射激光的颗粒物,该颗粒物中每个颗粒的粒径小于所述的一束肉眼无法区分开的光线的光斑直径;步骤3)利用激光扫描共聚焦显微镜中自带的成像装置,将所述的一束肉眼无法区分开的光线对所述颗粒物进行扫描成像;步骤4)若得到的图像含有重影,则判定所述的一束肉眼无法区分开的光线不是一束同轴的光线,调节所述反射镜或分束器,回到步骤3);若得到的图像没有重影,则判定所述的一束肉眼无法区分开的光线是一束同轴的光线,调整结束。

    一种环形阵列LED激发装置

    公开(公告)号:CN104459970A

    公开(公告)日:2015-03-25

    申请号:CN201410766736.X

    申请日:2014-12-12

    CPC classification number: G02B21/06

    Abstract: 本发明公开了一种环形阵列LED激发装置,包括:LED照明元,所述LED照明元设置在圆形载物环上;狭缝机构,其为圆环形结构,并且在圆环中间设置一条狭缝,所述狭缝机构设置在所述载物环的内侧;柱面镜,其也为圆环形结构,所述柱面镜设置在所述狭缝机构的内侧;其中,所述载物环、狭缝机构和柱面镜设置在外壳内,所述外壳的上端盖连接至所述显微镜的物镜上。本发明能够对样品全方位成像,有效消除了样品所成图像上的阴影,提高成像的效果,且成本更低,结构更加紧凑小巧,同时采用多色LED照明元,成像效果更佳。

    受激辐射损耗显微成像系统

    公开(公告)号:CN103257130A

    公开(公告)日:2013-08-21

    申请号:CN201310213071.5

    申请日:2013-05-31

    Abstract: 本发明提供的受激辐射损耗显微成像系统包括激发光激光、第一二色镜、荧光激发和成像单元、损耗光激光、矢量光束调制单元及控制单元。荧光激发和成像单元包括:第二二色镜、XY振镜扫描部件、扫描透镜、筒镜、物镜、探测针孔及光电倍增管。本发明提供的受激辐射损耗显微成像系统采用矢量光束调制单元对入射的损耗光激光光束振幅、相位及偏振态进行调制,利用物镜光瞳处的损耗光波振幅、相位和偏振态来形成损耗光焦斑,在多物理量同时作用下,对损耗光焦斑进行细微而复杂的整形,使得生成的损耗光焦斑能够和激发光焦斑分布精确匹配,同时能够在保证一定信噪比的情况下使得损耗光焦斑中央暗区直径最小,使得该受激辐射损耗显微成像系统具有很高的光学分辨率。

Patent Agency Ranking