确定RFID器件的性能的方法

    公开(公告)号:CN101384911B

    公开(公告)日:2011-10-12

    申请号:CN200680053190.7

    申请日:2006-11-02

    CPC classification number: G01R31/303 G01R29/08 G06K7/0095

    Abstract: 一种用于确定诸如处于标牌、标签、包裹、薄膜、纸箱、包装或这些中的一部分的里面或上面的RFID器件的远场性能的方法,其包括执行RFID器件的近场测试或测量,以及基于近场测试或测量的结果确定或预测远场性能。确定或预测远场性能可以涉及基于近场结果或测量计算远场性能的测量。被预测的远场性能可以包括多种性能因素中的任何一个,包括范围、灵敏度、频率性能、读出灵敏度、写入灵敏度、峰值操作频率和/或给定频带上的平均灵敏度。使用近场测试结果来预测远场性能可以允许使用小型测试设备、RFID器件的现场测试、快速测试和/或较低成本测试。

    确定RFID器件的性能的方法

    公开(公告)号:CN101384911A

    公开(公告)日:2009-03-11

    申请号:CN200680053190.7

    申请日:2006-11-02

    CPC classification number: G01R31/303 G01R29/08 G06K7/0095

    Abstract: 一种用于确定诸如处于标牌、标签、包裹、薄膜、纸箱、包装或这些中的一部分的里面或上面的RFID器件的远场性能的方法,其包括执行RFID器件的近场测试或测量,以及基于近场测试或测量的结果确定或预测远场性能。确定或预测远场性能可以涉及基于近场结果或测量计算远场性能的测量。被预测的远场性能可以包括多种性能因素中的任何一个,包括范围、灵敏度、频率性能、读出灵敏度、写入灵敏度、峰值操作频率和/或给定频带上的平均灵敏度。使用近场测试结果来预测远场性能可以允许使用小型测试设备、RFID器件的现场测试、快速测试和/或较低成本测试。

    射频识别装置测试器和方法

    公开(公告)号:CN1751327B

    公开(公告)日:2010-05-05

    申请号:CN200480004191.3

    申请日:2004-02-13

    Abstract: 射频识别装置测试器(10)包括多个耦合元件,其用于将阅读器(14)电容地耦合到待测试的射频识别装置(12)。阅读器(14)通过发送输出信号,例如输出的AC功率信号,来给射频识别装置供电,如果射频识别装置工作正常,那么所述信号可被射频识别装置整流和/或反射。所述输出信号的频率可以不同于射频识别装置的天线的谐振频率。射频识别装置测试器中的阅读器检测被反射和/或被传输的信号,以确认射频识别装置(14)的正常工作。射频识别装置测试器(10)可被用作卷到卷处理(80)的一部分,以在成卷材料(70)上单个测试射频识别装置。通过利用近程电容耦合,可减少或避免由同时激活多个射频识别装置所导致的困难。

    射频识别装置测试器和方法

    公开(公告)号:CN1751327A

    公开(公告)日:2006-03-22

    申请号:CN200480004191.3

    申请日:2004-02-13

    Abstract: 射频识别装置测试器(10)包括多个耦合元件,其用于将阅读器(14)电容地耦合到待测试的射频识别装置(12)。阅读器(14)通过发送输出信号,例如输出的AC功率信号,来给射频识别装置供电,如果射频识别装置工作正常,那么所述信号可被射频识别装置整流和/或反射。所述输出信号的频率可以不同于射频识别装置的天线的谐振频率。射频识别装置测试器中的阅读器检测被反射和/或被传输的信号,以确认射频识别装置(14)的正常工作。射频识别装置测试器(10)可被用作卷到卷处理(80)的一部分,以在成卷材料(70)上单个测试射频识别装置。通过利用近程电容耦合,可减少或避免由同时激活多个射频识别装置所导致的困难。

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