公开(公告)号：CN111095802A

公开(公告)日：2020-05-01

申请号：CN201880058797.7

申请日：2018-09-10

Applicant: 美国亚德诺半导体公司

Inventor： 陈宝箴 ,  L·D·费尔南多 ,  F·M·尧尔

IPC: H03M1/46 ,  H03M1/18 ,  H03M1/06 ,  H03M1/10

Abstract: 自适应SAR ADC技术可以提高速度和/或降低其功耗。在一些示例方法中，来自模拟输入信号的先前采样的转换的一个或多个位可以被预加载到ADC的DAC电路上。如果确定预加载的位是可接受的，则可以对当前样本进行位试验以确定剩余的位。如果不可接受，则ADC可以丢弃预加载的位并对所有位执行位试验。自适应SAR ADC可以包括控制回路以使用历史数据来调整(例如增加或减少)在随后的位试验中预加载的位数。

公开(公告)号：CN111095802B

公开(公告)日：2023-11-24

申请号：CN201880058797.7

申请日：2018-09-10

Applicant: 美国亚德诺半导体公司

Inventor： 陈宝箴 ,  L·D·费尔南多 ,  F·M·尧尔

IPC: H03M1/46 ,  H03M1/18 ,  H03M1/06 ,  H03M1/10

Abstract: 自适应SAR ADC技术可以提高速度和/或降低其功耗。在一些示例方法中，来自模拟输入信号的先前采样的转换的一个或多个位可以被预加载到ADC的DAC电路上。如果确定预加载的位是可接受的，则可以对当前样本进行位试验以确定剩余的位。如果不可接受，则ADC可以丢弃预加载的位并对所有位执行位试验。自适应SAR ADC可以包括控制回路以使用历史数据来调整(例如增加或减少)在随后的位试验中预加载的位数。