存储器阵列及形成包括存储器单元串的存储器阵列的方法

    公开(公告)号:CN112652627B

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN202011050056.X

    申请日:2020-09-29

    Abstract: 本申请案涉及存储器阵列及形成包括存储器单元串的存储器阵列的方法,方法包括形成包括垂直交替第一层及第二层的堆叠。使水平伸长沟槽形成到堆叠中以形成横向间隔存储器块区域。跨横向地在存储器块区域中的横向紧邻者之间且纵向地沿着横向紧邻者的沟槽形成桥材料。桥材料包括纵向交替第一及第二区域。使桥材料的第一区域不同于桥材料的第二区域而离子植入以在蚀刻过程中改变第一或第二区域中的一者相对于另一者的相对蚀刻速率。使第一及第二区域经受蚀刻过程以相对于第一及第二区域中的一者选择性地蚀除另一者以形成跨横向地在横向紧邻存储器块区域之间且沿着横向紧邻存储器块区域纵向间隔的沟槽延伸的桥。揭示独立于方法的其它实施例及结构。

    集成式组合件和形成集成式组合件的方法

    公开(公告)号:CN110504270B

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN201910409476.3

    申请日:2019-05-16

    Abstract: 本申请案涉及集成式组合件和形成集成式组合件的方法。一些实施例包含一种集成式组合件,其包括具有与第二区域相邻的第一区域的绝缘块体。所述第一区域与所述第二区域相比具有并入其中的较大量的一或多种惰性间隙元素。一些实施例包含一种集成式组合件,其具有竖直延伸的沟道材料柱,并且具有沿着所述沟道材料柱的存储器单元。导电结构在所述沟道材料柱下方。所述导电结构包含与所述沟道材料柱的底部区域直接接触的掺杂半导体材料。绝缘块体沿着所述沟道材料柱的所述底部区域。所述绝缘块体具有在下部区域上方的上部区域。所述下部区域与所述上部区域相比具有并入其中的较大量的一或多种惰性间隙元素。一些实施例包含一种形成集成式组合件的方法。

    晶体管及包括存储器单元串的存储器电路系统

    公开(公告)号:CN115623781A

    公开(公告)日:2023-01-17

    申请号:CN202210802300.6

    申请日:2022-07-07

    Abstract: 本申请案涉及晶体管及包括存储器单元串的存储器电路系统。包括存储器单元串的存储器电路系统包括包含交替的绝缘层级与导电层级的竖直堆叠。沟道材料串延伸穿过所述绝缘层级及所述导电层级。电荷通道材料在所述导电层级中位于所述沟道材料串的横向外部。存储材料在所述导电层级中位于所述电荷通道材料的横向外部。AlOq、ZrOq及HfOq中的至少一者在所述导电层级中位于所述存储材料的横向外部。(a)及(b)中的至少一者在所述导电层级中位于AlOq、ZrOq及HfOq中的所述至少一者的横向外部,其中,(a):MoOxNy,其中“x”及“y”中的每一者是从0到4.0;及(b):MoMz,其中“M”为W、第7族金属及第8族金属中的至少一者;“z”大于0且小于1.0。

    包括存储器阵列的集成电路系统及其形成方法

    公开(公告)号:CN114121977A

    公开(公告)日:2022-03-01

    申请号:CN202110993203.5

    申请日:2021-08-26

    Abstract: 本公开涉及一种包括存储器阵列的集成电路系统及其形成方法。一种用于形成包括存储器单元的串的存储器阵列的方法包括在下堆叠的正上方形成上堆叠。所述下堆叠包括竖直交替的下第一层面和下第二层面。所述上堆叠包括竖直交替的上第一层面和上第二层面。下沟道开口延伸穿过所述下第一层面和所述下第二层面。所述下沟道开口在其中具有牺牲材料。所述下第二层面的上部或所述上第二层面的下部包括硅氧原子比大于0.5的非化学计量二氧化硅。在所述下部的上第二层面上方的所述上第二层面的较高部包括硅氧原子比小于或等于0.5的二氧化硅。

    包括存储器单元串的存储器阵列及用于形成存储器阵列的方法

    公开(公告)号:CN113937105A

    公开(公告)日:2022-01-14

    申请号:CN202110782933.0

    申请日:2021-07-12

    Abstract: 本申请涉及包括存储器单元串的存储器阵列及用于形成包括存储器单元串的存储器阵列的方法。一种包括存储器单元串的存储器阵列包括位于下部堆叠上方的上部堆叠。所述下部堆叠包括竖直交替的下部导电层和下部绝缘层。所述上部堆叠包括竖直交替的上部导电层和上部绝缘层。中间层竖直地位于所述上部堆叠与所述下部堆叠之间。所述中间层至少主要是多晶硅并且具有与所述中间层正上方的所述上部导电层和所述上部绝缘层的组成不同的组成以及与所述中间层正下方的所述下部导电层和所述下部绝缘层的组成不同的组成。存储器单元的沟道材料串延伸穿过所述上部堆叠、所述中间层和所述下部堆叠。公开了其它结构和方法。

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