微小粒子分析装置及微小粒子分析方法

    公开(公告)号:CN102735656A

    公开(公告)日:2012-10-17

    申请号:CN201210081015.6

    申请日:2012-03-23

    Applicant: 索尼公司

    CPC classification number: G01N15/1434 G01N15/1459 G01N2015/1006

    Abstract: 一种微小粒子分析装置及微小粒子分析方法,该微小粒子分析装置包括:被构造为利用激光束照射在流路中流动的微小粒子的光照射单元,以及被构造为检测由被激光束照射的微小粒子发出的光的检测单元。在该微小粒子分析装置中,光照射单元至少包括由半导体激光器构成的光源,将由光源产生的激光束的光束形状转变成顶帽型光束形状的光纤,以及被构造为向光源提供驱动电流的光源驱动控制单元,该驱动电流通过将高频电流叠加到直流上来获得。

    微粒分析装置与微粒分析方法

    公开(公告)号:CN103852408A

    公开(公告)日:2014-06-11

    申请号:CN201310628845.0

    申请日:2013-11-29

    Applicant: 索尼公司

    Inventor: 棚濑广宣

    Abstract: 本发明提供了微粒分析装置与微粒分析方法,该微粒分析装置包括:光照射单元,光照射单元包括发射具有不同波长的激光束的多个光源,并且光照射单元被配置为使用激光对流经通道的微粒进行照射;和光源驱动控制单元,光源驱动控制单元被配置为控制光照射单元中每个光源的光发射。光源驱动控制单元被配置为向每个光源提供第一电流,并且在提供第一电流的同时,以时间分割方式向每个光源提供第二电流。

    微小粒子分析装置及微小粒子分析方法

    公开(公告)号:CN102735656B

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201210081015.6

    申请日:2012-03-23

    Applicant: 索尼公司

    CPC classification number: G01N15/1434 G01N15/1459 G01N2015/1006

    Abstract: 一种微小粒子分析装置及微小粒子分析方法,该微小粒子分析装置包括:被构造为利用激光束照射在流路中流动的微小粒子的光照射单元,以及被构造为检测由被激光束照射的微小粒子发出的光的检测单元。在该微小粒子分析装置中,光照射单元至少包括由半导体激光器构成的光源,将由光源产生的激光束的光束形状转变成顶帽型光束形状的光纤,以及被构造为向光源提供驱动电流的光源驱动控制单元,该驱动电流通过将高频电流叠加到直流上来获得。

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