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公开(公告)号：CN102735656A
公开(公告)日：2012-10-17
申请号：CN201210081015.6
申请日：2012-03-23
Applicant: 索尼公司
CPC classification number: G01N15/1434 , G01N15/1459 , G01N2015/1006
Abstract: 一种微小粒子分析装置及微小粒子分析方法，该微小粒子分析装置包括：被构造为利用激光束照射在流路中流动的微小粒子的光照射单元，以及被构造为检测由被激光束照射的微小粒子发出的光的检测单元。在该微小粒子分析装置中，光照射单元至少包括由半导体激光器构成的光源，将由光源产生的激光束的光束形状转变成顶帽型光束形状的光纤，以及被构造为向光源提供驱动电流的光源驱动控制单元，该驱动电流通过将高频电流叠加到直流上来获得。
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公开(公告)号：CN102346145A
公开(公告)日：2012-02-08
申请号：CN201110199688.7
申请日：2011-07-15
Applicant: 索尼公司
CPC classification number: G01N21/645 , G01N15/147 , G01N2021/4709 , G01N2021/6471
Abstract: 本发明公开了一种微粒测定装置。该微粒测定装置包括滤光器，该滤光器被分成多个区域且设置在光路上，在该光路上从用光照射的微粒发出的光被引导至光检测器。在该微粒测定装置中，该滤光器包括：具有波长选择性的第一区域，该第一区域通过波长选择性来阻断来自微粒的反射光及不需要的散射光分量并且透射荧光；以及第二区域，至少设置在该第一区域周围且不具有波长选择性，以透射需要的散射光分量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102735656B
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201210081015.6
申请日：2012-03-23
Applicant: 索尼公司
CPC classification number: G01N15/1434 , G01N15/1459 , G01N2015/1006
Abstract: 一种微小粒子分析装置及微小粒子分析方法，该微小粒子分析装置包括：被构造为利用激光束照射在流路中流动的微小粒子的光照射单元，以及被构造为检测由被激光束照射的微小粒子发出的光的检测单元。在该微小粒子分析装置中，光照射单元至少包括由半导体激光器构成的光源，将由光源产生的激光束的光束形状转变成顶帽型光束形状的光纤，以及被构造为向光源提供驱动电流的光源驱动控制单元，该驱动电流通过将高频电流叠加到直流上来获得。
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公开(公告)号：CN102331396A
公开(公告)日：2012-01-25
申请号：CN201110162675.2
申请日：2011-06-16
Applicant: 索尼公司 , iCyt米申技术公司
IPC: G01N15/14
CPC classification number: G01N15/1434 , G01J3/024 , G01J3/1256 , G01N15/1459 , G01N21/53 , G01N21/645 , G02B6/14 , G02B6/32 , G02B6/4215
Abstract: 本发明公开了微粒分析装置和方法，该微粒分析装置包括：光源；第一聚光透镜，用于将来自光源的光会聚至多模光纤的第一端；第二聚光透镜，用于将从多模光纤的第二端出射的光会聚至微粒；以及检测器，用于检测通过施加来自光源的光而从微粒产生的光。
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公开(公告)号：CN102346145B
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201110199688.7
申请日：2011-07-15
Applicant: 索尼公司
CPC classification number: G01N21/645 , G01N15/147 , G01N2021/4709 , G01N2021/6471
Abstract: 本发明公开了一种微粒测定装置。该微粒测定装置包括滤光器，该滤光器被分成多个区域且设置在光路上，在该光路上从用光照射的微粒发出的光被引导至光检测器。在该微粒测定装置中，该滤光器包括：具有波长选择性的第一区域，该第一区域通过波长选择性来阻断来自微粒的反射光及不需要的散射光分量并且透射荧光；以及第二区域，至少设置在该第一区域周围且不具有波长选择性，以透射需要的散射光分量。
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公开(公告)号：CN102331396B
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201110162675.2
申请日：2011-06-16
Applicant: 索尼公司 , iCyt米申技术公司
IPC: G01N15/14
CPC classification number: G01N15/1434 , G01J3/024 , G01J3/1256 , G01N15/1459 , G01N21/53 , G01N21/645 , G02B6/14 , G02B6/32 , G02B6/4215
Abstract: 本发明公开了微粒分析装置和方法，该微粒分析装置包括：光源；第一聚光透镜，用于将来自光源的光会聚至多模光纤的第一端；第二聚光透镜，用于将从多模光纤的第二端出射的光会聚至微粒；以及检测器，用于检测通过施加来自光源的光而从微粒产生的光。
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公开(公告)号：CN102192871A
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN201110030405.6
申请日：2011-01-27
Applicant: 索尼公司
IPC: G01N15/14
CPC classification number: G01J3/1256 , G01J3/4406 , G01N15/1429 , G01N15/1434 , G01N15/1459 , G01N21/51 , G01N21/645 , G01N2021/4707
Abstract: 本发明披露了微粒分析设备和微粒分析方法。一种微粒分析设备，包括：光源，被配置为用光照射微粒；声光调制器，被配置为衍射由于光照射而从微粒生成的荧光；狭缝，被配置为仅允许在来自所述声光调制器的衍射光束中衍射中心波长区中的衍射光透过；以及检测器，被配置为检测透过狭缝的衍射中心波长区中的衍射光。
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