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公开(公告)号：CN103284756B
公开(公告)日：2016-11-30
申请号：CN201310055841.8
申请日：2013-02-21
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 高桥正辉
IPC: A61B8/00
Abstract: 本发明提供一种探头单元、超声波探测器、电子设备及诊断装置。上述探头单元是超声波探测器的探头单元，包括：连接部，将上述超声波探测器的探测器主体与该探头单元电连接；元件芯片，其包括超声波元件阵列，并通过上述连接部与上述探测器主体电连接，上述超声波元件阵列包括具有阵列状配置的多个开口的基板和在上述多个开口的每一个开口均设有各超声波换能器元件的多个的上述超声波换能器元件；以及支撑部件，用于支撑上述元件芯片。
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公开(公告)号：CN103296193A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310053679.6
申请日：2013-02-19
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 高桥正辉
IPC: H01L41/047 , H01L41/083 , B06B1/06
CPC classification number: G01R31/2607 , A61B8/4494 , B06B1/06 , B06B1/0622 , G03B42/06 , H01L41/0475
Abstract: 本发明提供一种超声波换能器元件芯片、探头、探测器以及电子设备。该超声波换能器元件芯片具有：阵列状地配置有多个开口的基板、设在多个开口的每一个的超声波换能器元件及与超声波换能器元件连接的布线，其中，超声波换能器元件芯片具备在从基板的厚度方向看的俯视观察时位于多个开口的阵列的轮廓与基板的外缘之间即周缘区域且与布线电绝缘的附加布线，附加布线在俯视观察时比多个开口的阵列的轮廓与基板的外缘的最短距离长。
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公开(公告)号：CN102854489A
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN201210222315.1
申请日：2012-06-28
Applicant: 精工爱普生株式会社
CPC classification number: G01S1/725 , G01S7/4814 , G01S7/4816 , G01S17/003 , G01S17/46 , G01S17/87 , G06F3/0416 , G06F3/0421
Abstract: 本发明涉及光学式位置检测装置以及带输入功能的显示系统。在光学式位置检测装置中从光源部射出检测光时，受光部利用第1受光元件以及第2受光元件接受来自对象物体的反射光。对于第1受光元件以及第2受光元件而言，第1受光元件的受光面的法线方向与第2受光元件的受光面的法线方向的交叉角度被设定为超过90°且不到180°的值。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102033662A
公开(公告)日：2011-04-27
申请号：CN201010294073.8
申请日：2010-09-26
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: G06F3/042
CPC classification number: G06F3/0425
Abstract: 本发明提供一种即使不在检测区域的周围设置多个发光元件、受光元件也能够检测出对象物体位置的带位置检测功能的投影型显示装置。在对具有图像投影装置(200)的投影型显示装置附加位置检测功能而构成带位置检测功能的投影型显示装置(100)时，设置向检测区域(10R)射出由红外光构成的位置检测光的位置检测用光源部(11)，并通过光检测器(30)检测在检测区域(10R)中由对象物体Ob所反射的位置检测光。位置检测用光源部(11)、光检测器(30)及位置检测部(50)均设置在图像投影装置(200)上。
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公开(公告)号：CN102854489B
公开(公告)日：2016-05-25
申请号：CN201210222315.1
申请日：2012-06-28
Applicant: 精工爱普生株式会社
CPC classification number: G01S1/725 , G01S7/4814 , G01S7/4816 , G01S17/003 , G01S17/46 , G01S17/87 , G06F3/0416 , G06F3/0421
Abstract: 本发明涉及光学式位置检测装置以及带输入功能的显示系统。在光学式位置检测装置中从光源部射出检测光时，受光部利用第1受光元件以及第2受光元件接受来自对象物体的反射光。对于第1受光元件以及第2受光元件而言，第1受光元件的受光面的法线方向与第2受光元件的受光面的法线方向的交叉角度被设定为超过90°且不到180°的值。
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公开(公告)号：CN102314265B
公开(公告)日：2014-11-12
申请号：CN201110184862.0
申请日：2011-06-28
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 高桥正辉
IPC: G06F3/042
CPC classification number: G06F3/0416 , G06F3/0428 , G06F2203/04101
Abstract: 本发明提供一种光学式检测装置、显示装置以及电子设备。该光学式检测装置的特征在于：包含：照射部，其射出照射光；受光部，其接收被对象物反射的上述照射光；放大部，其放大上述受光部的受光检测信号；检测部，其基于上述放大部输出的信号来输出上述对象物的位置确定信息；判断部，其基于上述位置确定信息来判断上述对象物的位置；和耦合电容器，其设置在上述放大部的输出节点与上述检测部的输入节点之间。
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公开(公告)号：CN103284756A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310055841.8
申请日：2013-02-21
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 高桥正辉
IPC: A61B8/00
CPC classification number: B06B1/0622 , A61B8/4494
Abstract: 本发明提供一种探头单元、超声波探测器、电子设备及诊断装置。上述探头单元是超声波探测器的探头单元，包括：连接部，将上述超声波探测器的探测器主体与该探头单元电连接；元件芯片，其包括超声波元件阵列，并通过上述连接部与上述探测器主体电连接，上述超声波元件阵列包括具有阵列状配置的多个开口的基板和在上述多个开口的每一个开口均设有各超声波换能器元件的多个的上述超声波换能器元件；以及支撑部件，用于支撑上述元件芯片。
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公开(公告)号：CN102314265A
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201110184862.0
申请日：2011-06-28
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 高桥正辉
IPC: G06F3/042
CPC classification number: G06F3/0416 , G06F3/0428 , G06F2203/04101
Abstract: 本发明提供一种光学式检测装置、显示装置以及电子设备。该光学式检测装置的特征在于：包含：照射部，其射出照射光；受光部，其接收被对象物反射的上述照射光；放大部，其放大上述受光部的受光检测信号；检测部，其基于上述放大部输出的信号来输出上述对象物的位置确定信息；判断部，其基于上述位置确定信息来判断上述对象物的位置；和耦合电容器，其设置在上述放大部的输出节点与上述检测部的输入节点之间。
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