公开(公告)号：CN105589048B

公开(公告)日：2020-10-30

申请号：CN201510756467.3

申请日：2015-11-09

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 长坂公夫

IPC: G01R33/032

Abstract: 本发明提议了一种指定存在于计测区域的原磁场的磁场计测方法以及磁场计测装置。光源部(2)向配置于计测区域的气室(3)照射前进方向为z轴方向且电场的振动方向为y轴方向的直线偏振光。偏光计(4)检测透过气室(3)的光的光学特性。磁场发生器(7)向计测区域施加x轴分量、y轴分量、z轴分量为可变的人工磁场。运算控制部(5)使磁场发生器(7)产生在x轴分量和y轴分量中的一个分量为固定值的状态下改变了z轴分量、及x轴分量和y轴分量中的另一个分量的多个人工磁场，并基于偏光计(4)的检测结果算出磁化值或者对应于该磁化值的值，利用磁化值或者对应于该磁化值的值满足极值条件时的人工磁场，算出计测区域中存在的原磁场。

公开(公告)号：CN106066459A

公开(公告)日：2016-11-02

申请号：CN201610250842.1

申请日：2016-04-21

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 藤井永一 ,  长坂公夫

IPC: G01R33/032 ,  G01R33/00 ,  G01R33/26

CPC classification number: G01R33/26 ,  G01R33/0052 ,  G01R33/032

Abstract: 本发明涉及磁测量装置及其制造方法、气室以及气室的制造方法。本发明提供小型且使用寿命长的能够稳定地制造的气室以及具备气室的磁测量装置、气室以及磁测量装置的制造方法。磁测量装置(100)的特征在于，具备：壁(11)，其构成室部(12)；开口部(18)，其在壁(11)的一部分开口；封闭材料(30)，其封闭开口部(18)；涂层(32)，其在室部(12)的内侧覆盖封闭材料(30)；以及碱金属气体(13)，其被封入室部(12)。

公开(公告)号：CN105310682A

公开(公告)日：2016-02-10

申请号：CN201510364560.X

申请日：2015-06-26

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 藤井永一 ,  长坂公夫

IPC: A61B5/04 ,  F16J15/02

CPC classification number: G01R33/26

Abstract: 本发明涉及盖、气室、气室的密封方法、盖的制造方法以及盖阵列基板。本发明为了减少密封气室的工序中的盖的位置偏移。气室的密封方法具备：在作为用于密封气室的盖的基板上接合突起部的接合工序；将与基板接合的突起部放入设置于气室主体的开口部中，进行基板相对于气室主体的定位的定位工序；在进行了定位的状态下利用密封材料将基板和气室主体接合，并对气室主体进行密封的密封工序。

公开(公告)号：CN102641118B

公开(公告)日：2014-12-31

申请号：CN201210031156.7

申请日：2012-02-13

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 长坂公夫 ,  菊原和通

IPC: A61B5/00

CPC classification number: G01R33/032 ,  A61B5/04007 ,  A61B5/04008 ,  A61B2562/0223 ,  G01R33/26 ,  Y10T29/49982

Abstract: 本发明提供一种气室的制造方法及气室，其提高了气室的特性的均一性。气室的制造方法具有：以形成由形成有所述涂层的面围成的气室单元的方式，组装形成有所述涂层的多个所述板材的组装工序；向形成的所述气室单元内填充碱金属气体的填充工序。

公开(公告)号：CN1227549C

公开(公告)日：2005-11-16

申请号：CN03148664.9

申请日：2003-06-17

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 长坂公夫 ,  宫前章 ,  金子丈夫

IPC: G02B6/42 ,  G02B6/36 ,  H01S5/00 ,  H04B10/12

CPC classification number: G02B6/4292 ,  G02B6/4204 ,  G02B6/4214 ,  G02B6/4221 ,  G02B6/4227 ,  G02B6/4246

Abstract: 提供一种能够进一步简化制造工艺的光收发机的制造方法。本发明的光收发机的制造方法包括以下步骤：对具有安装支撑光纤一端的光插头用的嵌入孔(137b)的光插座(137)和与该光插座(137)共同组装的组装对象(130)进行组装；将拍摄组装对象(130)的光头(310)安装在光插座(137)的嵌入孔(137b)上，获取在嵌入孔(137b)露出的组装对象(130)的图像和该摄影画面内的基准位置信息；检测组装对象(130)的图像与基准位置信息的偏差；根据上述偏差，相对移动光插座(137)与组装对象(130)，从而减少上述偏差；固定组合对象(130)与光插座(137)。

公开(公告)号：CN1527080A

公开(公告)日：2004-09-08

申请号：CN200410006528.6

申请日：2004-03-04

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 宫前章 ,  长坂公夫

IPC: G02B6/42

CPC classification number: G02B6/4228 ,  G02B6/4212

Abstract: 本发明提供一种产品可靠性高，小型低价的光通信模块。该光通信模块包括：其上具有可插拔光纤的通孔(2)的衬底(1)、被配置在所述衬底(1)的单侧面上，用于覆盖所述通孔(2)的透光树脂膜(6)、在透光树脂膜上印制了图案的导体膜(7)、以及连接到所述导体膜(7)上，以通孔(2)为基准定位，设置在所述通孔(2)上，能够穿过通孔(2)进行光的接收或发送，并根据需要可用密封材料进行封装的光元件(3)。

公开(公告)号：CN105640552B

公开(公告)日：2020-10-16

申请号：CN201510854441.2

申请日：2015-11-30

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 长坂公夫 ,  宫坂光敏

IPC: A61B5/05 ,  G01R33/032

Abstract: 本发明涉及磁场测量方法以及磁场测量装置。在光泵浦式的磁场测量中，能够测量探测光是单方向且多个方向的磁场。在磁场测量装置(1)中，光源(18)对气室(12)向Z轴方向照射兼具泵浦光和探测光的直线偏振光，磁场产生器(8)对气室(12)，分别在X、Y轴方向施加作为取n个固定值fi(i＝1、…、n)的振幅A0的时间函数f(t)的磁场Ax、以及作为取m个固定值gj(j＝1、…、m)的振幅A0的时间函数g(t)的磁场Ay。运算控制部(30)使用人工磁场A的X、Y轴方向成分Ax、Ay以及与磁传感器(10)的测量值W‑相当的自旋极化度Mx，来计算测量区域的磁场C(Cx、Cy、Cz)。

公开(公告)号：CN105640552A

公开(公告)日：2016-06-08

申请号：CN201510854441.2

申请日：2015-11-30

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 长坂公夫 ,  宫坂光敏

IPC: A61B5/05 ,  G01R33/032

Abstract: 本发明涉及磁场测量方法以及磁场测量装置。在光泵浦式的磁场测量中，能够测量探测光是单方向且多个方向的磁场。在磁场测量装置(1)中，光源(18)对气室(12)向Z轴方向照射兼具泵浦光和探测光的直线偏振光，磁场产生器(8)对气室(12)，分别在X、Y轴方向施加作为取n个固定值fi(i＝1、…、n)的振幅A0的时间函数f(t)的磁场Ax、以及作为取m个固定值gj(j＝1、…、m)的振幅A0的时间函数g(t)的磁场Ay。运算控制部(30)使用人工磁场A的X、Y轴方向成分Ax、Ay以及与磁传感器(10)的测量值W-相当的自旋极化度Mx，来计算测量区域的磁场C(Cx、Cy、Cz)。

公开(公告)号：CN105487022A

公开(公告)日：2016-04-13

申请号：CN201510641865.0

申请日：2015-09-30

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 藤井永一 ,  长坂公夫

IPC: G01R33/02

CPC classification number: G01R33/032 ,  G01R33/0052

Abstract: 提供能在不损坏池且不溶解安瓿的玻璃材料的情况下稳定加工安瓿的磁力测量装置、气体池以及它们的制造方法。测量从活体产生的磁场的磁力测量装置(100)的制造方法，包括以下步骤：在石英玻璃构成的池部(12)的空隙中配置硼硅酸玻璃构成的且在中空部填充有碱金属固体(24)的安瓿(20)，并密封池部(12)；使脉冲激光(40)通过池部12照射在安瓿(20)上，从而在安瓿(20)上形成贯通孔(21)，脉冲激光(40)的能量为20μJ/脉冲至200μJ/脉冲。石英玻璃对脉冲激光(40)的吸收系数比硼硅酸玻璃对脉冲激光(40)的吸收系数小。

公开(公告)号：CN103941199A

公开(公告)日：2014-07-23

申请号：CN201410024912.2

申请日：2014-01-20

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 长坂公夫

IPC: G01R33/032 ,  G01R33/022

CPC classification number: A61B5/04008 ,  G01R33/032

Abstract: 本发明的磁场测量装置采用比现有技术简单的结构，对沿着探测光的方向的磁场梯度进行测量。本发明的探测光照射部(3)对探测光进行照射。气室(1)被配置在探测光的光轴上，对于探测光在第1轴以及第2轴上示出线性二色性。气室(2)，在探测光的光轴上相对于气室(1)被配置在探测光照射部(3)的相反侧，对于探测光在与第1轴以及第2轴不同的第3轴以及第4轴上示出线性二色性。测量部(4)，基于透过了气室1以及气室2的探测光的偏振面的变化量，对气室(1)中的磁场和气室(2)中的磁场之差进行测量。