公开(公告)号：CN1392569A

公开(公告)日：2003-01-22

申请号：CN02124364.6

申请日：2002-06-13

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 小平觉 ,  上原正也 ,  小林等 ,  熊谷敬

IPC: G11C29/00 ,  H01L21/66 ,  G01R31/28

CPC classification number: G11C29/48 ,  G11C29/20

Abstract: 提供在老化筛选中，能防止由于地址端子和数据输入(输入输出)端子等受损而导致的成品率下降的半导体存储器。在老化筛选状态中，SRAM芯片以基于计数器(T触发器(120－0～120－17))的来自外部的时钟信号的计数为基础，生成地址(A0′)信号～地址(A18′)信号。通过用解码器把该地址信号解码，来选择构成存储单元阵列的各存储单元(MC)的地址。然后，以来自T触发器(120－18)的输出端子(Q18)的信号为基础，生成数据(D1′)信号～数据(D16′)信号。通过把该数据信号的数据写入所选择的存储单元(MC)中，来进行老化筛选。

公开(公告)号：CN1182539C

公开(公告)日：2004-12-29

申请号：CN02124364.6

申请日：2002-06-13

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 小平觉 ,  上原正也 ,  小林等 ,  熊谷敬

IPC: G11C29/00 ,  H01L21/66 ,  G01R31/28

CPC classification number: G11C29/48 ,  G11C29/20

Abstract: 提供在老化筛选中，能防止由于地址端子和数据输入(输入输出)端子等受损而导致的成品率下降的半导体存储器。在老化筛选状态中，SRAM芯片以基于计数器(T触发器(120-0～120-17))的来自外部的时钟信号的计数为基础，生成地址(A0′)信号～地址(A18′)信号。通过用解码器把该地址信号解码，来选择构成存储单元阵列的各存储单元(MC)的地址。然后，以来自T触发器(120-18)的输出端子(Q18)的信号为基础，生成数据(D1′)信号～数据(D16′)信号。通过把该数据信号的数据写入所选择的存储单元(MC)中，来进行老化筛选。