用于测量橡胶类材料层的厚度的方法

    公开(公告)号:CN107407547B

    公开(公告)日:2020-07-07

    申请号:CN201580069122.9

    申请日:2015-12-11

    Abstract: 本发明涉及用于测量橡胶类材料层的厚度的方法,所述材料层包括与空气接触的自由面以及连接至相邻外壳的面,所述相邻外壳由元件形成,所述元件彼此电绝缘并且包含至少一种其导磁率在空气的导磁率之上的磁滞材料。所述方法包括以下步骤:在其期间使发射交变磁场的传感器元件接近其厚度待测量的材料层的步骤;在其期间在传感器元件的端子处测量相邻外壳中的磁滞损耗的步骤;以及在其期间根据磁滞损耗评估材料层的厚度的步骤。

Patent Agency Ranking