公开(公告)号：CN116543174A

公开(公告)日：2023-08-04

申请号：CN202310507441.X

申请日：2023-05-08

Applicant: 福建工程学院

Inventor： 陈健 ,  王守印 ,  郑文斌 ,  林丽 ,  蒋柱武 ,  何栋炜 ,  刘丽桑 ,  张定恒

IPC: G06V10/44 ,  G06V10/82 ,  G06V10/80 ,  G06N3/045 ,  G06T7/00 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/0495

Abstract: 本发明公开一种自适应特征增强融合的PCB缺陷检测方法，将采集到的PCB图像输入到嵌入NAM模块的特征提取器ResNext‑101，对缺陷区域进行初始特征提取；将提取得到的特征图输入到AFF模块，通过不同尺度的卷积来捕获不同感受野下不同类型和大小的缺陷特征，再对得到的多尺度信息进行通道归一化后得到输出特征K；对输出特征K进行三次自下而上的反卷积上采样，得到高分辨率特征图；对得到的高分辨率特征图依次进行3×3、1×1两次卷积操作，最终输出对PCB缺陷的定位和分类预测。本发明显著提升对被检目标的识别和定位精度。