基于半监督学习的TFT-LCD液晶面板缺陷分割方法及系统

    公开(公告)号:CN117409411A

    公开(公告)日:2024-01-16

    申请号:CN202311457999.8

    申请日:2023-11-04

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于半监督学习的TFT‑LCD液晶面板缺陷分割方法及系统,该方法包括如下步骤:步骤1、采集生产流程中TFT‑LCD液晶面板的良品图像和缺陷图像,进行缺陷标注,获得标签信息,形成样本集,并划分为训练集和验证集;步骤2、构建半监督分割网络,所述半监督分割网络包括ViT共享编码器、CNN解码器和MAE正则化支路;对构建的半监督分割网络进行训练,得到训练好的半监督分割网络;步骤3、将待检测图像输入训练好的半监督分割网络中进行缺陷分割,得到对应的分割结果。该方法及系统有利于减轻训练模型所需人工标注的工作量,并提高缺陷分割精度。

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