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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101632012A
公开(公告)日：2010-01-20
申请号：CN200880008207.6
申请日：2008-03-10
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： S·凯珀 , B·H·W·亨德里克斯 , R·W·I·德博尔 , G·胡夫特
CPC classification number: G01N21/645 , G01N21/31 , G01N21/6428
Abstract: 描述了用于分析生物细胞材料(115)的设备(100)。该设备(100)包括光源装置(120)，其适于将第一(131)和第二照明光(132)导向细胞材料(115)，其中第一(131)和第二(132)照明光分别包含第一和第二光谱辐射成分。该设备(100)还包括检测器装置(170)，其适于接收基于第一照明光(131)与细胞材料(115)的第一相互作用的第一测量光(151)以及基于第二照明光(152)与细胞材料(115)的第二相互作用的第二测量光(152)。此外，该设备(100)包括评估单元(180)，其耦合到检测器装置(170)并且其适于评估分别指示第一(151)和第二测量光(151)的第一信号(171a)和第二信号(171b)。该设备(100)可以用于实现与NAD(P)H的自发荧光测量相结合的紫外DNA图像细胞计量术。
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公开(公告)号：CN101821608A
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：CN200880100713.8
申请日：2008-07-23
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·W·I·德博尔 , B·H·W·亨德里克斯
CPC classification number: G01N21/6458 , G01N2021/6419 , G01N2021/6421 , G01N2021/6441 , G02B21/16 , G02B21/244
Abstract: 本发明提供了一种用于对样本成像的方法，该方法至少包括：利用第一标记物材料以及利用第二标记物材料对样本染色；在相对于样本聚焦成像设备的聚焦步骤中采用第一标记物材料；以及在成像步骤中采用第二标记物材料以及已经在聚焦步骤中聚焦的成像设备，以便获取样本的图像。本发明也涉及用于对样本成像的系统。
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公开(公告)号：CN101553162A
公开(公告)日：2009-10-07
申请号：CN200780045328.3
申请日：2007-11-29
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B5/00
CPC classification number: A61B5/0066 , A61B5/0071 , A61B5/0075 , A61B5/0084 , A61B5/6848
Abstract: 本申请描述了一种用于获取靶材料的光学组织特性的医疗器械(230)。该医疗器械(230)包括具有纵轴(232)的伸长的主体(231)以及集成到伸长的主体(231)内的光纤。该光纤具有第二光纤末端(242，242a，242b)，其设置在伸长的主体(231)的侧壁(233)处并且提供相对于纵轴(232)的横向视场。依照一个实施例，集成了许多光纤，每根光纤具有围绕伸长的主体(231)的光学出口(242，242a，242b)。使用出口(242、242a、242b)来执行漫射光学层析并且还使用光纤来执行光学检查，可以获得有关围绕医疗器械(230)的体积内的肿瘤的存在以及医疗器械(230)的邻近的组织特征化的信息。因此，可以实现光学活组织检查，其中没有移除真实的组织。依照另一个实施例，将光学检测系统集成到真实的活组织检查针(330)中，从而允许同时实现检查和真实的活组织检查。
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公开(公告)号：CN101821608B
公开(公告)日：2012-08-08
申请号：CN200880100713.8
申请日：2008-07-23
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·W·I·德博尔 , B·H·W·亨德里克斯
CPC classification number: G01N21/6458 , G01N2021/6419 , G01N2021/6421 , G01N2021/6441 , G02B21/16 , G02B21/244
Abstract: 本发明提供了一种用于对样本成像的方法，该方法至少包括：利用第一标记物材料以及利用第二标记物材料对样本染色；在相对于样本聚焦成像设备的聚焦步骤中采用第一标记物材料；以及-在成像步骤中采用第二标记物材料以及已经在聚焦步骤中聚焦的成像设备，以便获取样本的图像。本发明也涉及用于对样本成像的系统。
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公开(公告)号：CN101952710A
公开(公告)日：2011-01-19
申请号：CN200880114706.3
申请日：2008-10-30
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： D·J·W·克伦德 , C·R·M·德威茨 , R·彭特曼 , R·W·I·德博尔 , E·M·H·P·范迪克
IPC: G01N21/55 , G01N21/64 , G01N21/77 , G01N33/551
CPC classification number: G01N21/648 , B82Y15/00 , G01N21/552 , G01N21/554 , G01N21/6452 , G01N21/7703 , G01N33/54373 , G01N2021/6432 , G01N2021/7786 , G02B6/0229 , G02B2006/12138
Abstract: 提供了一种用于检测结合表面(12)附近的目标成分(10)的微电子传感器设备(100)，该设备包括：用于发射入射在结合表面(12)的具有一波长的辐射束(101)的源(21)；位于结合表面(12)附近的光学结构(11)，用于响应于入射在结合表面(12)的辐射，在由结合表面(12)界定的且在从离开结合表面(12)到样品室(2)内的衰减长度上延伸的检测体积(4)内提供倏逝辐射；以及用于响应于来自源(21)的所发射的入射辐射(101)，检测来自检测体积(4)内存在的目标成分(101)的辐射(102)的检测器(31)，其中结合表面(12)配置有电介质材料(3)的直立壁，用于提供一个或多个检测体积(4)，该检测体积被界定到小于衍射极限的最大面内检测体积尺寸(W1)，衍射极限由辐射波长和用于包含目标成分(10)的介质(2)定义。
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