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公开(公告)号：CN101331545A
公开(公告)日：2008-12-24
申请号：CN200680047349.4
申请日：2006-12-06
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： D·M·布鲁尔斯 , J·M·A·范登伊伦比姆德 , F·M·A·M·范加尔
CPC classification number: G11B7/1387
Abstract: 本发明提供用于清理近场光学扫描装置的折射元件光学面的方法和设备。使用磁性敏感的清理材料，以方便有效地清理折射元件，而不损坏该元件。如果希望的话，可以将根据本发明的方法与已知的清理方法相组合。
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公开(公告)号：CN1954373A
公开(公告)日：2007-04-25
申请号：CN200580015300.6
申请日：2005-05-11
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/005 , G11B7/0053 , G11B7/0956 , G11B7/14
Abstract: 在传统的一维光学存储中，以线性方式排列数据，并且通过单个光点(102)读出数据。为了增加数据传输率和存储容量，提出在各向同性的、六角形格子(200)中排列数据，并且使用多个光点(202)读出。由于高位强度，2D符号间的干扰(ISI)对位检测具有重要的影响。读出光点(202)中的象差改变ISI的形式，因此妨碍了2D位检测。因此，提出一种方法和设备，其中通过扫描已知的校准图案估计读出光点(202)的ISI，即选择位图案，以便其光学响应是读出光点的形状特征，可以确定读出光点中的象差，并且根据需要对其进行有利地补偿。
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公开(公告)号：CN1875406A
公开(公告)日：2006-12-06
申请号：CN200480032037.7
申请日：2004-10-20
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： A·H·J·伊明克 , A·M·范德李 , D·M·布鲁尔斯 , W·M·J·M·科内
IPC: G11B7/013
CPC classification number: G11B7/24085 , G11B7/00454 , G11B7/14 , G11B7/24088
Abstract: 一种用于在记录载体(50)上记录通道数据流的通道符号的记录装置，所述装置适于将所述通道符号记录为至少两个符号行(sr)的通道带(cb)，符号行沿第一方向(t)一维展开并且沿第二方向(r)彼此对准，所述两个方向构成符号单元(sc)的二维网格，每个符号单元与该记录载体(50)的一个符号区域(sa)相关联。为了减少记录的通道带内的凹坑－标记的前沿和尾沿的出现，并且考虑到限制交叉写入效应为了能够在所述第二方向上写入一个小的半径范围，建议以标记区域(rpm)的形式记录通道符号，该标记区域具有在所述第一方向(t)上的长度基本等于所述第一方向(t)上的符号区域(sa)的长度和在第二方向(r)上的宽度小于所述第二方向(r)上的符号区域(sa)的宽度的纵向形状。
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公开(公告)号：CN100481218C
公开(公告)日：2009-04-22
申请号：CN200580015300.6
申请日：2005-05-11
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/005 , G11B7/0053 , G11B7/0956 , G11B7/14
Abstract: 在传统的一维光学存储中，以线性方式排列数据，并且通过单个光点(102)读出数据。为了增加数据传输率和存储容量，提出在各向同性的、六角形格子(200)中排列数据，并且使用多个光点(202)读出。由于高位强度，2D符号间的干扰(ISI)对位检测具有重要的影响。读出光点(202)中的象差改变ISI的形式，因此妨碍了2D位检测。因此，提出一种方法和设备，其中通过扫描已知的校准图案估计读出光点(202)的ISI，即选择位图案，以便其光学响应是读出光点的形状特征，可以确定读出光点中的象差，并且根据需要对其进行有利地补偿。
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公开(公告)号：CN101248486A
公开(公告)日：2008-08-20
申请号：CN200680030676.9
申请日：2006-08-16
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0903
Abstract: 本发明涉及一种在相关光学记录载体上进行径向跟踪的光学系统。该光学系统包含至少一个射线发射装置，所述射线发射装置能够发射至少三条光束：用于读取和/或记录信息的第一光束，和用于跟踪的至少第二光束和第三光束。所述光学系统适合于由基于第二和第三光束的中心孔径信号的高频分量生成的跟踪误差信号进行第一光斑的径向跟踪。跟踪误差信号可以是基于中心孔径信号的高频分量的功率的DC电平的差信号生成的。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101053025A
公开(公告)日：2007-10-10
申请号：CN200580037736.5
申请日：2005-10-31
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G11B7/007 , G11B7/14 , G11B7/0033 , G11B7/0037 , G11B7/26
CPC classification number: G11B7/14 , G11B7/0033 , G11B7/0037 , G11B7/007 , G11B7/263
Abstract: 本发明涉及提供一种便携式存储介质(10，20)以及一种用于制造此类便携式存储介质(10，20)的冲压单元(70)，以便允许在高数据速率下读取数据以及写入数据。用于存储数据的该便携式存储介质(10，20)还可以被插入在数据读取和/或写入设备中，其包括数据部分(12，22)，其中该数据部分(12，22)包括第一分区和第二分区，第一分区包括一组(32，418，54，64)基本上平行地横向分开的第一轨道(36，39，408)，所述各第一轨道(36，39，408)具有第一格式，并且第二分区包括具有第二格式的第二轨道(33，52，62)，其中该组(32，418，54，64)基本上平行地横向分开的第一轨道(36，39，408)具有并行的格式，以便允许以高数据速率并行读取内容。
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公开(公告)号：CN1950889A
公开(公告)日：2007-04-18
申请号：CN200580013548.9
申请日：2005-04-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/1267 , G11B7/14
Abstract: 在传统的一维光存储系统中，数据被以线性方式排列，格式由单个光点读出。而二维编码的光盘则不同，因为数据被以二维方式(位处于位点阵上)排列，数据由多个光点读出。重要的是知道读出光点的相对强度，因为符号间干扰被用在反射信号的信号处理中，并且本发明提供了一种校准相对强度的方法，其通过在光学记录载体的非用户数据区域设置一个或多个镜面区域并使用从那里反射回的信号确定相对强度来实现对相对强度进行所需的精确校准。在一种示范实施例中，除了多个包含校准模式(152)的宽阔的元光轨之外，还有镜面区域(150)位于记录载体(1)的导入区(2)中。
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公开(公告)号：CN1890725A
公开(公告)日：2007-01-03
申请号：CN200480036148.5
申请日：2004-11-30
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B2007/0013
Abstract: 本发明涉及包含具有存储器的计算机的数据处理系统，所述存储器用以存储并取得至少一个实施预定功能的应用程序，并用以存储和取得至少一个数据文件，所述计算机包括用以在该计算机和该计算机的用户之间进行娱乐交流的用户界面，所述至少一个应用程序包含验证软件和处理软件，所述验证软件与所述至少一个数据文件一起检查并实现所述应用程序的可操作性，所述处理软件用于和所述至少一个数据文件一起基于所述验证软件的所述实现来执行所述功能，并且，可独立地和与所述处理软件无关地执行所述验证软件。
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公开(公告)号：CN101779117B
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN200880101497.9
申请日：2008-07-17
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： D·M·布鲁尔斯 , J·J·H·B·施莱彭
IPC: G01N21/55 , G01N33/543 , G01N21/64
CPC classification number: G01N21/552 , G01N21/648 , G01N27/745 , G01N2201/064 , G01N2201/0691 , G01N2201/0696
Abstract: 本发明涉及一种用于在载体(11)处进行光学检查的微电子传感器设备和方法，例如用于通过受抑全内反射(FTIR)来检测在该载体(11)的接触表面(12)处的磁性粒子(1)。光源(21)和激光调制器(22)一道用于发射输入光束(L1)到载体(11)中，对该光源进行调制使得与来自所述载体(11)的入射窗(14)或其他部件的所述输入光束(L1)的反射(L1′)的光学干涉得以减少/最小化，所述光源具体地为激光光源。这例如能够通过脉冲的接通/断开调制来实现，其中当前发射的脉冲(PN)的第一弛豫最小值在所述光源(21)中与反射的脉冲(PN-1′)的第一弛豫最大值重合。通过减少干涉效应，该设置不那么容易受到来自例如由热伸长所引起的尺寸变化的干扰。
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公开(公告)号：CN101910825A
公开(公告)日：2010-12-08
申请号：CN200880123841.4
申请日：2008-12-18
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： J·J·H·B·施莱彭 , D·M·布鲁尔斯 , J·A·H·M·卡尔曼
IPC: G01N21/55
CPC classification number: G01N21/552
Abstract: 本发明提供了一种FTIR系统，该系统包括：第一光源，其发射第一波长的光；样本体积，其具有相邻的传感器表面；检测器，其用于检测所述传感器表面处反射的光。该传感器表面由所述第一光源照射，满足全内反射条件并且在样本体积内产生具有衰减长度的消逝场。所述系统还包括用于改变消逝场的衰减长度的装置以及用于使检测的信号与消逝场的衰减长度的变化相关的装置。
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