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公开(公告)号：CN111936887A
公开(公告)日：2020-11-13
申请号：CN201980020183.4
申请日：2019-01-17
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
IPC: G01T1/29
Abstract: 本发明涉及一种图像重建装置，包括：探测器值提供单元，其用于针对形成放射线探测器的多个探测器元件中的每个探测器元件以及多个预定能量箱中的每个能量箱提供探测器值；相关值提供单元，其用于提供相关值，其中，相关值表示由探测器元件探测到的能量箱中的探测器值与以下至少一项的相关性：a)由另一探测器元件探测到的在所述能量箱中的探测器值，b)由另一探测器元件探测到的在另一能量箱中的探测器值，和c)由所述探测器元件探测到的在另一能量箱中的探测器值；以及谱图像重建单元，其用于基于所述探测器值和所述相关值来重建谱图像。
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公开(公告)号：CN109964118A
公开(公告)日：2019-07-02
申请号：CN201780069836.9
申请日：2017-11-09
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 提供了一种用于相位对比成像系统(100)的X射线探测器(10)和具有这种探测器(10)的相位对比成像系统(100)。X射线探测器(10)包括闪烁设备(12)和光探测器(14)，所述光探测器具有光学耦合到所述闪烁设备(12)的多个光敏像素(15)，其中，所述X射线探测器(10)包括平行于所述闪烁设备(12)的表面法向向量的主轴(16)，并且其中，所述闪烁设备(12)包括具有多个凹槽(20)的晶片衬底(18)，所述多个凹槽彼此间隔开。凹槽(20)中的每个沿着从所述闪烁设备(12)的第一侧(13)到所述晶片衬底(18)中的第一方向(21)延伸一深度(22)，其中，凹槽(20)中的每个至少部分填充有闪烁材料。其中，所述多个凹槽(20)中的至少部分的第一方向(21)与所述主轴(16)不同，使得所述多个凹槽(20)中的至少部分相对于所述主轴(16)倾斜。布置在所述闪烁设备(12)的中心区域(24)中的凹槽(20)的第一方向(21)与所述主轴(16)之间的角度小于布置在所述闪烁设备(12)的外部区域(26)中的凹槽(20)的第一方向(21)与所述主轴(16)之间的角度。
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公开(公告)号：CN105793734A
公开(公告)日：2016-07-20
申请号：CN201480064601.7
申请日：2014-11-20
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于探测由辐射源(2)发射的光子的探测设备(6)。所述探测设备(6)被配置为在第一时间段期间探测所述光子。所述探测设备(6)包括：具有中间直接转换材料的传感器(10)，所述中间直接转换材料用于将光子转换为电子和空穴；整形元件(20)；以及补偿单元(450、INT、950)。所述补偿单元(450、INT、950)适于基于电脉冲并且基于所述传感器(10)的光电导增益来提供补偿信号。本发明的核心是提供电路以通过如下操作来减小由于关于谱计算机断层摄影中的直接转换探测器的固有误差的伪影：确定补偿电流；探测或者监测基线恢复器反馈信号；或者忽略高于基线水平的信号。
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公开(公告)号：CN105188547A
公开(公告)日：2015-12-23
申请号：CN201480025725.4
申请日：2014-05-10
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
CPC classification number: A61B6/4241 , A61B6/032 , A61B6/4233 , A61B6/482 , A61B6/583 , A61B6/585 , G01T1/161 , G01T1/169 , G01T1/171 , G01T7/005
Abstract: 一种方法包括通过组合光子计数探测器的启发式校准和光子计数探测器的分析式校准来确定针对校准谱成像系统的光子计数探测器的校准因子，以及基于所述启发式校准和所述分析式校准的组合来生成光子计数校准因子的集合。当所述光子计数校准因子被应用于来自对象或物体的谱CT扫描的光子计数探测器的所述测得的能量分辨数据时，减轻由对所述谱CT扫描的辐射射束进行滤波的辐射强度轮廓整形器导致的谱失真。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105143918A
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN201480023144.7
申请日：2014-04-17
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 本发明涉及用于处理由在一块转换器材料中，比如在辐射探测器的像素(11)中的入射光子(X)生成的电流脉冲(CP)的方法和脉冲处理电路(100)。脉冲形状偏离参考的偏差被探测并且被用于识别归因于在高计数率的堆叠效应和/或在相邻像素之间的电荷共享的脉冲损坏。比如通过用脉冲整形器(110)，根据电流脉冲(CP)和/或能够与彼此进行比较的不同形状的两个整形脉冲来生成双极整形脉冲可以实现所述偏差探测。
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公开(公告)号：CN104583806A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201380043287.X
申请日：2013-07-15
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/247 , G01N23/046 , G01T1/171 , G01T1/248
Abstract: 本发明涉及一种用于探测入射X射线光子(X)的方法和X射线探测器(100)。X射线探测器(100)包括至少一个传感器单元(105)以及至少一个通量传感器(104)，其中，在所述至少一个传感器单元中X射线光子(X)被转换成传感器信号(s)，所述至少一个通量传感器用于生成与光子(X)的通量相关的通量信号(f)。所述传感器信号(s)基于所述通量信号(f)被校正。在优选实施例中，所述传感器信号(s)表示谱分辨的脉冲计数。所述通量传感器(104)可以被集成到ASIC(103)中，所述ASIC被耦合到所述传感器单元(105)。
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公开(公告)号：CN104582573A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201380043436.2
申请日：2013-08-20
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
CPC classification number: A61B6/587 , A61B6/484 , A61B6/582 , A61B6/588 , A61B6/589 , G01N23/20025 , G01N23/20075 , G01N2223/643
Abstract: 本发明涉及处理用于微分相位对比成像的X射线成像系统中的错位。为了提供对用于微分相位对比成像系统中的制造和维护的预调谐和调整要求的降低，提供了一种用于微分相位对比成像的X射线成像系统(10)，其包括微分相位对比设置(12)，所述微分相位对比设置具有X射线源(14)和X射线探测器(16)、包括源光栅(20)、相位光栅(22)和分析器光栅(24)的光栅布置(18)，其中，所述源光栅被布置在所述X射线源与所述相位光栅之间，并且所述分析器光栅被布置在所述相位光栅与所述探测器之间。另外，提供了用于在检查中的对象与所述光栅中的至少一个之间的相对移动的移动布置、以及处理单元(32)和用于平移所述源光栅的平移布置(34)。所述相位光栅、所述分析器光栅和所述探测器被提供作为刚性干涉仪单元(36)，在所述刚性干涉仪单元中，所述相位光栅和所述分析器光栅平行于彼此被安装。使所述源光栅相对于所述干涉仪单元错位，使得在所述探测器的平面中能检测到莫尔条纹。所述处理单元被配置为在X射线辐射后由所述探测器提供的信号中检测莫尔图样。所述处理单元还被配置为计算平移信号(38)，所述平移信号用于平移所述源光栅以实现预定的莫尔图样。所述平移布置被配置为基于所述平移信号的值至少在X射线投影方向(30)上调整所述源光栅的定位。
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公开(公告)号：CN104220899A
公开(公告)日：2014-12-17
申请号：CN201380016483.8
申请日：2013-03-25
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/18 , A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/482 , A61B6/585 , G01N23/046 , G01T1/171 , G01T1/248
Abstract: 一种成像系统(600)包括辐射源(608)和探测器阵列(610)，其中，所述辐射源(608)发射穿过检查区域的多色辐射，所述探测器阵列(610)定位为与所述辐射源相对，位于所述检查区域的对面，所述探测器阵列(610)包括麻痹型光子计数探测器像素(611)，所述麻痹型光子计数探测器像素(611)探测穿过所述检查区域并且照射所述探测器像素的所述辐射的光子、并且生成指示每个探测到的光子的信号。输出光子计数率到输入光子计数率的映射(626)包括将所述探测器像素的多个输入光子计数率映射到所述探测器像素的单一的输出光子计数率的至少一个映射，并且输入光子计数率确定器(624)将所述映射的所述多个输入光子计数率中的一个输入光子计数率识别为所述探测器像素的正确的输入光子计数率。重建器基于识别出的输入光子计数率来重建所述信号。
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公开(公告)号：CN112088320B
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN201980030697.8
申请日：2019-05-07
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 公开了一种适于探测泄漏电流的辐射探测器(100)，并且所述辐射探测器包括直接转换材料(101)、至少一个第一电极(108)和多个第二电极(103)、至少一个电流测量设备(201)、以及多个信号处理链(210、220、230)，所述直接转换材料用于转换入射辐射，所述至少一个第一电极和所述多个第二电极被连接到所述直接转换材料(101)的表面以在施加电场后收集每个生成的电荷。每个信号处理链包括读出单元(215、216、217、218、219)和切换元件(214)，所述读出单元用于在关于所述入射辐射的能量值之间进行鉴别，所述切换元件用于在第一信号路径(2141)上或在第二信号路径上发送信号，所述第一信号路径将所述多个第二电极中的一个与所述读出单元电连接，所述第二信号路径将所述多个第二电极中的所述一个与到所述至少一个电流测量设备中的一个的输入端电连接。多个切换元件被配置为在所述第二信号路径上发送信号以在不存在入射辐射的情况下测量在所述探测器的对应的多个第二电极处接收的泄漏电流。
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