公开(公告)号：CN105828036A

公开(公告)日：2016-08-03

申请号：CN201610184444.4

申请日：2016-03-28

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 刘霖 ,  邱俊傑 ,  杨少波 ,  李多 ,  杜晓辉 ,  张静 ,  刘娟秀 ,  倪光明 ,  刘永 ,  叶玉堂

IPC: H04N7/18

CPC classification number: H04N7/181

Abstract: 本发明是关于一种针对液晶屏像素缺陷检测的采图装置，属于液晶缺陷检测领域，特别是针对平板屏和电脑屏等大屏幕液晶的像素缺陷检测。该发明是将多个低像素摄像头线性排列设置在基座上替代传统技术中单个高像素摄像头，并控制被测液晶屏幕做固定长度的位移运动，以采集到整个液晶屏幕的缺陷。检测过程中，只需检测每个摄像头采集到的图像，就可以达成检测整个液晶屏幕缺陷的目的。该发明的采集图像清晰、成本低、结构简单、可扩展性高特别适用于大尺寸高分辨率平板屏和电脑屏缺陷检测。