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公开(公告)号:CN108872106A
公开(公告)日:2018-11-23
申请号:CN201810665691.5
申请日:2018-06-26
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种测定水体中痕量亚硫酸盐的方法,包括以下步骤:1、取环境水样,调节样品pH为3~6.5,置于全自动分散液‑液微萃取系统中;2、将样品和Fe3+与邻菲啰啉的显色体系反应,得到配合物Fe(phen)32+;3、使用表面活性剂对Fe(phen)32+进行中性化;4、利用全自动分散液‑液微萃取系统将萃取剂、分散剂和中性化后样品进行混合;5、移取底部沉积相即富集后样品于波长510nm处进行分光光度分析。本发明建立了一种适用于现场原位监测的全自动分散液‑液微萃取‑分光光度法测定自然水体中痕量亚硫酸盐的方法,具有简单便携(4.2kg)、灵敏度高、富集倍数高、样品吞吐量大等优点,成功运用于实际样品的检测。
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公开(公告)号:CN106683116A
公开(公告)日:2017-05-17
申请号:CN201611245193.2
申请日:2016-12-29
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06T7/246
CPC classification number: G06T2207/10016 , G06T2207/20081
Abstract: 本发明公开了一种基于支持向量机的粒子滤波联合跟踪方法。本发明通过建立基于全局灰度特征的支持向量机判别模型,将粒子采样得到的候选目标进行分类,输出可靠性靠前的候选粒子,作为块稀疏生成模型的输入;构建基于块稀疏表示的生成模型,对输入的候选目标进行遮挡处理,并与参考信息进行相似度度量;同时通过更新支持向量机的训练样本与块稀疏模型的参考信息保持对目标表观变化的更新,以实现稳定跟踪。
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公开(公告)号:CN108872106B
公开(公告)日:2021-03-19
申请号:CN201810665691.5
申请日:2018-06-26
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种测定水体中痕量亚硫酸盐的方法,包括以下步骤:1、取环境水样,调节样品pH为3~6.5,置于全自动分散液‑液微萃取系统中;2、将样品和Fe3+与邻菲啰啉的显色体系反应,得到配合物Fe(phen)32+;3、使用表面活性剂对Fe(phen)32+进行中性化;4、利用全自动分散液‑液微萃取系统将萃取剂、分散剂和中性化后样品进行混合;5、移取底部沉积相即富集后样品于波长510nm处进行分光光度分析。本发明建立了一种适用于现场原位监测的全自动分散液‑液微萃取‑分光光度法测定自然水体中痕量亚硫酸盐的方法,具有简单便携(4.2kg)、灵敏度高、富集倍数高、样品吞吐量大等优点,成功运用于实际样品的检测。
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公开(公告)号:CN112083406A
公开(公告)日:2020-12-15
申请号:CN202010979772.X
申请日:2020-09-17
Applicant: 电子科技大学 , 同方电子科技有限公司
Abstract: 本发明属于电子信息技术领域,具体是涉及一种对目标高度稳健的外辐射源二维定位方法。本发明用于在目标高度未知的情况下,通过测量目标反射的回波信号的一维来波方向和到达时差,确定目标的平面坐标。使用本发明提出的方法,在目标高度未知的情况下,通过测量目标反射的回波信号的一维来波方向和到达时差,所确定的目标的平面坐标(二维定位)的定位精度不受未知的目标高度的影响。
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公开(公告)号:CN106683116B
公开(公告)日:2019-06-21
申请号:CN201611245193.2
申请日:2016-12-29
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06T7/246
Abstract: 本发明公开了一种基于支持向量机的粒子滤波联合跟踪方法。本发明通过建立基于全局灰度特征的支持向量机判别模型,将粒子采样得到的候选目标进行分类,输出可靠性靠前的候选粒子,作为块稀疏生成模型的输入;构建基于块稀疏表示的生成模型,对输入的候选目标进行遮挡处理,并与参考信息进行相似度度量;同时通过更新支持向量机的训练样本与块稀疏模型的参考信息保持对目标表观变化的更新,以实现稳定跟踪。
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公开(公告)号:CN112083406B
公开(公告)日:2022-05-17
申请号:CN202010979772.X
申请日:2020-09-17
Applicant: 电子科技大学 , 同方电子科技有限公司
Abstract: 本发明属于电子信息技术领域,具体是涉及一种对目标高度稳健的外辐射源二维定位方法。本发明用于在目标高度未知的情况下,通过测量目标反射的回波信号的一维来波方向和到达时差,确定目标的平面坐标。使用本发明提出的方法,在目标高度未知的情况下,通过测量目标反射的回波信号的一维来波方向和到达时差,所确定的目标的平面坐标(二维定位)的定位精度不受未知的目标高度的影响。
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