一种太赫兹近场成像系统及方法

    公开(公告)号:CN112083196A

    公开(公告)日:2020-12-15

    申请号:CN202010980153.2

    申请日:2020-09-17

    Inventor: 胡旻 王月莹

    Abstract: 一种太赫兹近场成像系统及方法,系统包括激光器,用于产生飞秒激光,飞秒激光经过分束镜分为入射光和检测光,入射光传输至入射单元,检测光传输至延时单元经延时后传输至光导开关并触发光导开关导通;入射单元,用于在入射光的激励下产生入射信号,入射信号激励金属探针产生局域场,局域场激励金属探针探测方向上的样品产生近场信号;金属探针,用于将近场信号耦合成电流信号,电流信号经金属探针、传输线、光导开关传输至后端处理单元;后端处理单元,用于接收和处理电流信号,得到样品表面的近场信息。本发明利用金属探针以电流的形式激发和提取样品表面的近场信号,不仅能够显著提高近场信号的信噪比和信号强度,并且大幅简化近场光路设计。

    一种基于自由电子激发和光电探测的相干近场检测系统

    公开(公告)号:CN112485229A

    公开(公告)日:2021-03-12

    申请号:CN202011177247.2

    申请日:2020-10-29

    Abstract: 本发明公开了一种基于自由电子激发和光电探测的相干近场检测系统,属于真空电子学和太赫兹光电探测技术的交叉领域。本发明采用飞秒激光源产生飞秒激光,经分束器分为两束,其中一束激励光阴极产生脉冲电子束,脉冲电子束激发待测材料的表面波,在待测材料下表面放置由基底和金属电极组成的光导天线(若待测材料为金属光栅,则将其中相邻两光栅作为金属电极)直接感应待测材料的表面波;另一束飞秒激光通过延时光路再注入到光导天线上,从而实现光电采样,完成对待测材料表面波的探测。本发明方法没有了针尖对近场信号的影响,同时电子投射场在物体表面的强度也远小于表面波的强度,可以实现对较为纯净近场信号的时域直接探测。

    一种基于自由电子激发和光电探测的相干近场检测系统

    公开(公告)号:CN112485229B

    公开(公告)日:2022-03-15

    申请号:CN202011177247.2

    申请日:2020-10-29

    Abstract: 本发明公开了一种基于自由电子激发和光电探测的相干近场检测系统,属于真空电子学和太赫兹光电探测技术的交叉领域。本发明采用飞秒激光源产生飞秒激光,经分束器分为两束,其中一束激励光阴极产生脉冲电子束,脉冲电子束激发待测材料的表面波,在待测材料下表面放置由基底和金属电极组成的光导天线(若待测材料为金属光栅,则将其中相邻两光栅作为金属电极)直接感应待测材料的表面波;另一束飞秒激光通过延时光路再注入到光导天线上,从而实现光电采样,完成对待测材料表面波的探测。本发明方法没有了针尖对近场信号的影响,同时电子投射场在物体表面的强度也远小于表面波的强度,可以实现对较为纯净近场信号的时域直接探测。

    一种太赫兹近场成像系统及方法

    公开(公告)号:CN112083196B

    公开(公告)日:2021-09-28

    申请号:CN202010980153.2

    申请日:2020-09-17

    Inventor: 胡旻 王月莹

    Abstract: 一种太赫兹近场成像系统及方法,系统包括激光器,用于产生飞秒激光,飞秒激光经过分束镜分为入射光和检测光,入射光传输至入射单元,检测光传输至延时单元经延时后传输至光导开关并触发光导开关导通;入射单元,用于在入射光的激励下产生入射信号,入射信号激励金属探针产生局域场,局域场激励金属探针探测方向上的样品产生近场信号;金属探针,用于将近场信号耦合成电流信号,电流信号经金属探针、传输线、光导开关传输至后端处理单元;后端处理单元,用于接收和处理电流信号,得到样品表面的近场信息。本发明利用金属探针以电流的形式激发和提取样品表面的近场信号,不仅能够显著提高近场信号的信噪比和信号强度,并且大幅简化近场光路设计。

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