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公开(公告)号：CN110308417A
公开(公告)日：2019-10-08
申请号：CN201910464969.7
申请日：2019-05-30
Applicant: 电子科技大学 , 电子科技大学广东电子信息工程研究院
Abstract: 本发明提出一种基于矩阵填充的嵌套阵阵元失效下的波达方向估计方法，该方法包括：根据嵌套阵阵列接收信号x(t)计算虚拟优化阵的接收信号协方差矩阵 将虚拟优化阵的接收信号协方差矩阵扩充为均匀阵列的协方差矩阵 建立补全均匀阵列的协方差矩阵 中零元素的凸优化问题，在均匀阵列的协方差矩阵 中的非零元素保持不变的前提下，使均匀阵列的协方差矩阵 的奇异值之和最小；采用矩阵填充中的固定点延拓算法对凸优化问题进行求解得到最优值RV；对最优值RV进行特征分解，得到噪声子空间，从而构造MUSIC谱，通过谱峰搜索实现DOA估计。本发明不仅使用了稀疏阵的所有虚拟阵元来进行DOA估计，保留了嵌套阵自身的优势，而且利用矩阵填充算法填充了更多的阵元来进行DOA估计。
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公开(公告)号：CN110308417B
公开(公告)日：2021-07-02
申请号：CN201910464969.7
申请日：2019-05-30
Applicant: 电子科技大学 , 电子科技大学广东电子信息工程研究院
Abstract: 本发明提出一种基于矩阵填充的嵌套阵阵元失效下的波达方向估计方法，该方法包括：根据嵌套阵阵列接收信号x(t)计算虚拟优化阵的接收信号协方差矩阵将虚拟优化阵的接收信号协方差矩阵扩充为均匀阵列的协方差矩阵建立补全均匀阵列的协方差矩阵中零元素的凸优化问题，在均匀阵列的协方差矩阵中的非零元素保持不变的前提下，使均匀阵列的协方差矩阵的奇异值之和最小；采用矩阵填充中的固定点延拓算法对凸优化问题进行求解得到最优值RV；对最优值RV进行特征分解，得到噪声子空间，从而构造MUSIC谱，通过谱峰搜索实现DOA估计。本发明不仅使用了稀疏阵的所有虚拟阵元来进行DOA估计，保留了嵌套阵自身的优势，而且利用矩阵填充算法填充了更多的阵元来进行DOA估计。
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公开(公告)号：CN118189964A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410314168.3
申请日：2024-03-19
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01C21/20 , G06N3/0464 , G06N3/045 , G06F18/2131 , G06F18/214 , H04B10/80
Abstract: 发明公开了基于信号矩阵变换和深度学习的光学机器人定位方法，包括构建光学机器人定位系统，以接收器为原点，绘制I条对数螺线，并在每条对数螺线上按照角度均匀选取M个点作为接收器位置；构建去噪神经网络，滤除接收信号中存在的环境光噪声、器件的热噪声和散粒噪声；并利用A步骤中所建立的定位系统中的接收器所接受到的信号，转化为信号矩阵；精确定位：使用卷积神经网络提取C步骤所得信号矩阵的特征，之后使用Transformer处理提取到的特征，实现对发射激光的光学机器人的定位。本发明增强了对目标的解析能力、提升了对噪声的鲁棒性，使得新的方法能够适应更加复杂的水下环境。
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公开(公告)号：CN111723535B
公开(公告)日：2023-03-10
申请号：CN202010533937.0
申请日：2020-06-12
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/28 , G06F30/15 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种基于艇身自由变形的游艇减阻优化方法，包括以下步骤：S1、以游艇的总阻力为优化目标，建立基于关键控制点进行自由变形的游艇外流场仿真模型；S2、基于样本点和响应值构建Stacking集成学习的代理模型，使用机器学习中的网格搜索策略和和五折交叉验证方法优化代理模型；S3：利用遗传算法对所建立的Stacking集成学习的代理模型进行全局寻优，得到设计变量的最优组合；基于设计变量的最优组合，利用自由变形技术对原始艇身实现相应变形，采用逆向工程技术将变形后的艇身STL格式文件转化为STEP格式文件，得到优化艇身模型。本发明具有原理简单、可操作性强、设计灵活、可靠性高及适用面广等特点。
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公开(公告)号：CN110596174B
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN201910831127.0
申请日：2019-09-04
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01N23/2273 , G01N23/2202
Abstract: 本发明属于材料测试技术领域，具体涉及了一种用于评估高反射率膜损耗稳定性的X射线辐照测试方法。本发明利用X射线的电荷积累效应，模拟高反膜因荷电积累的失效过程：采用的X射线源对高反膜表面进行荷电处理，在累积的处理过程中；同时利用光电子能谱仪原位监测高反膜表面化学态的变化，间断的进行XPS分析，检测高反膜表面的各元素的化学态变化。通过对随机选取的失效组样品和非失效组样品进行统计分析，并引入α和β参数描述O1s峰的对称性，只用到了两个拟合参数，就可以评估辐照荷电老化时的损耗变化，便于工程实际应用，是一种方便、快捷的判别方法。特别适合用于膜层材料工艺实验的快速优化、工艺监控等环节。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111723535A
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN202010533937.0
申请日：2020-06-12
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/28 , G06F30/15 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种基于艇身自由变形的游艇减阻优化方法，包括以下步骤：S1、以游艇的总阻力为优化目标，建立基于关键控制点进行自由变形的游艇外流场仿真模型；S2、基于样本点和响应值构建Stacking集成学习的代理模型，使用机器学习中的网格搜索策略和和五折交叉验证方法优化代理模型；S3：利用遗传算法对所建立的Stacking集成学习的代理模型进行全局寻优，得到设计变量的最优组合；基于设计变量的最优组合，利用自由变形技术对原始艇身实现相应变形，采用逆向工程技术将变形后的艇身STL格式文件转化为STEP格式文件，得到优化艇身模型。本发明具有原理简单、可操作性强、设计灵活、可靠性高及适用面广等特点。
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公开(公告)号：CN110309531A
公开(公告)日：2019-10-08
申请号：CN201910326895.0
申请日：2019-04-23
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种基于车身自由变形的汽车减阻优化方法，该方法包括基于汽车车身STL文件和自由变形技术设计自由变形程序，建立汽车车身的参数化模型；以汽车的风阻系数为优化目标，考虑自由变形时车身正投影面积变化对风阻系数的影响，建立基于关键控制点进行自由变形的车身外流场仿真模型；基于样本点和响应构建kriging代理模型，利用遗传算法对所建立的kriging代理模型进行全局寻优，得到设计变量的最优组合；利用自由变形程序对原始车身STL文件进行变形处理，得到车身自由变形优化模型。本发明具有原理简单、可操作性强、设计灵活、可靠性高及适用面广等特点，对汽车空气动力学减阻优化研究具有重要指导和借鉴意义。
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公开(公告)号：CN109490820B
公开(公告)日：2021-04-27
申请号：CN201811347947.4
申请日：2018-11-13
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01S3/14
Abstract: 本发明提出一种基于平行嵌套阵的二维DOA估计方法，包括以下步骤：计算第一子阵虚拟优化阵接收信号的自相关矩阵和第二子阵虚拟优化阵接收信号的自相关矩阵；计算所述第一子阵虚拟优化阵接收信号与所述第二子阵虚拟优化阵接收信号的互相关矩阵以及第二子阵虚拟优化阵与第一子阵虚拟优化阵的互相关矩阵；计算平行嵌套阵虚拟优化阵接收信号的自相关矩阵；计算入射信号cosα的估计值；计算cosβ的估计值；计算第K个信号的方位角的估计值和俯仰角的估计值。本发明使用稀疏阵的所有虚拟阵元来进行估计，突破了可估计信号数不能超过子阵数的限制。
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公开(公告)号：CN110660446A
公开(公告)日：2020-01-07
申请号：CN201910850863.0
申请日：2019-09-10
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明属于信息安全技术领域，涉及非易失性存储器的安全存储，具体涉及一种评估单片机中非易失性存储器数据残留的装置。本发明先通过SEM断面扫描的方获取了待测非易失性存储器的物理结构和使用材料，根据扫描得到的物理结构参数和使用材料对应的半导体特性参数，仿真得到浮栅电荷Q与阈值电压Vth的关系；然后通过芯片复位中断，并用掉电法获取阈值电压，获得在单片机中非易失性存储单元擦写过程中，阈值电压随时间的变化关系；最后利用之前获取的擦写过程中阈值电压随时间的变化关系，使用电荷注入和掉电的方法，结合浮栅电荷Q与阈值电压Vth的关系，获得一条浮栅上注入电荷与残留电荷之和Q0+Qr与擦除次数N的关系曲线。
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公开(公告)号：CN110596174A
公开(公告)日：2019-12-20
申请号：CN201910831127.0
申请日：2019-09-04
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01N23/2273 , G01N23/2202
Abstract: 本发明属于材料测试技术领域，具体涉及了一种用于评估高反射率膜损耗稳定性的X射线辐照测试方法。本发明利用X射线的电荷积累效应，模拟高反膜因荷电积累的失效过程：采用的X射线源对高反膜表面进行荷电处理，在累积的处理过程中；同时利用光电子能谱仪原位监测高反膜表面化学态的变化，间断的进行XPS分析，检测高反膜表面的各元素的化学态变化。通过对随机选取的失效组样品和非失效组样品进行统计分析，并引入α和β参数描述O1s峰的对称性，只用到了两个拟合参数，就可以评估辐照荷电老化时的损耗变化，便于工程实际应用，是一种方便、快捷的判别方法。特别适合用于膜层材料工艺实验的快速优化、工艺监控等环节。
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