一种高分辨多色荧光成像系统及荧光成像系统

    公开(公告)号:CN118937284A

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202310536515.2

    申请日:2023-05-12

    Abstract: 一种高分辨多色荧光成像系统,包括:多色LED光源,用于分时发出不同波长的激发光波;光栅,用于将激发光波调制成余弦结构光;调制物镜,设置于余弦结构光的光路上,用于对余弦结构光进行投射;载物台240,用于承载样品,样品用于接收调制物镜所投射的余弦结构光并在表面形成投影图案,样品受激产生荧光;移动单元,用于调整光栅以改变光栅的角度和相位,以使得样品所接收的投影图案发生改变;滤光单元,用于对荧光进行滤波处理;捕获物镜,用于接收滤波处理后的荧光并出射;成像单元,用于感应经捕获物镜所出射的荧光得到荧光图像。本发明的高分辨多色荧光成像系统能够自动获取在不同光栅相位和角度下的多色荧光图像,十分方便。

    基于分光器件的分段式平面成像系统及成像方法

    公开(公告)号:CN117148570A

    公开(公告)日:2023-12-01

    申请号:CN202311102990.5

    申请日:2023-08-29

    Abstract: 基于分光器件的分段式平面成像系统,包括透镜阵列,所述透镜阵列包括透镜列,透镜列内的微透镜两两配对组成基线,所述组成基线是指两个微透镜的光线干涉作为一组干涉光,且每一个微透镜均具有两种基线组成方式:所述成像系统还包括光子集成电路和图像处理模块;所述光子集成电路包含集成分光器件和阵列波导光栅、波导传输线和多个平衡四正交探测器;每个透镜列连接一个光子集成电路。本发明提出的分段式平面成像系统,每个微透镜经过分光器件参与组成两条基线,单个干涉臂采用互补的基线配对方式,可以增加传统系统缺失的空间频率信息的采集,进一步提高了,提升系统的成像质量。

    基于干涉臂组的微透镜阵列、成像系统及图像重建方法

    公开(公告)号:CN116500710A

    公开(公告)日:2023-07-28

    申请号:CN202310474333.7

    申请日:2023-04-28

    Abstract: 基于干涉臂组的微透镜阵列,包括P个干涉臂组,每一干涉臂组包括第一透镜列和第二透镜列,所述第一透镜列包含连续紧密排列在一条直线上的M个微透镜;所述第二透镜列包含连续紧密排列在一条直线上的N个微透镜;所述微透镜阵列还包括单镜头,所述多个干涉臂组绕微透镜阵列中心成圆环形射线状排列,各个干涉臂组之间的圆心角相等,且各个所述干涉臂组的第二透镜列位于圆环形的半径方向上,所述单镜头位于微透镜阵列中心。本发明优化了现有分段式平面成像系统基线不丰富,频率采样覆盖率低的问题,优化了动态目标的频谱合成方法,提高动态目标重建的准确性和鲁棒性,进一步提升分段式平面成像系统的成像质量,适用于航空、航天和其他图像获取等领域。

    一种微透镜阵列、分段式平面成像系统及其成像方法

    公开(公告)号:CN115097554B

    公开(公告)日:2023-05-26

    申请号:CN202210799759.5

    申请日:2022-07-08

    Abstract: 本发明公开了一种微透镜阵列、分段式平面成像系统及其成像方法,涉及光电探测技术领域,解决了现有的分段式平面成像系统最大基线长度短,高频信息丢失严重,对目标的成像质量产生了较严重影响的问题,其技术方案要点是:包括透镜阵列、光子集成电路和图像处理模块。本发明中的透镜阵列每列透镜被分为了长臂和短臂两部分,长臂中的透镜被分为第三部分、第二部分,短臂为第一部分,第二部分中的透镜既可以和第三部分中的透镜组成透镜对,也可以和第一部分中的透镜组成透镜对,优化了现有分段式平面成像系统基线短,高频采样覆盖率低的问题,提高了分段式平面成像系统的成像质量。

    一种微透镜阵列、分段式平面成像系统及其成像方法

    公开(公告)号:CN115097554A

    公开(公告)日:2022-09-23

    申请号:CN202210799759.5

    申请日:2022-07-08

    Abstract: 本发明公开了一种微透镜阵列、分段式平面成像系统及其成像方法,涉及光电探测技术领域,解决了现有的分段式平面成像系统最大基线长度短,高频信息丢失严重,对目标的成像质量产生了较严重影响的问题,其技术方案要点是:包括透镜阵列、光子集成电路和图像处理模块。本发明中的透镜阵列每列透镜被分为了长臂和短臂两部分,长臂中的透镜被分为第三部分、第二部分,短臂为第一部分,第二部分中的透镜既可以和第三部分中的透镜组成透镜对,也可以和第一部分中的透镜组成透镜对,优化了现有分段式平面成像系统基线短,高频采样覆盖率低的问题,提高了分段式平面成像系统的成像质量。

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